特許
J-GLOBAL ID:200903068890164659
プリント配線板の検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
滝本 智之 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-208833
公開番号(公開出願番号):特開平11-051998
出願日: 1997年08月04日
公開日(公表日): 1999年02月26日
要約:
【要約】【課題】 高密度な電極においても確実に検査可能なプリント配線板の検査装置を提供することを目的とするものである。【解決手段】 被検査プリント配線板2に形成された複数の電極3に対向した位置に設けた接点部4から多層状に引出し配線された配線部21を介して設置された配線端子8からなる検査用基板1と、検査用プレート11に装着された配線端子8に当接する接続部19と、接点部4を電極3に押圧する押圧部20とが上下移動自在に設置され、接続部19と配線材8aで接続されて被検査プリント配線板2の電気的接続状態を測定検査する検査部18により構成され、電極密度が高いプリント配線板の検査が容易に行える。
請求項(抜粋):
被検査プリント配線板に形成された電極と対向した位置に接点部を、他面に接点部から多層状に引出し配線する配線部を介して配線端子を設けた検査用基板と、検査用プレートに装着され配線端子の一端と接続する伸縮自在な接続部と、検査用基板と検査用プレートの間に装着した接点部を電極に当接させるために押圧する押圧部とが上下移動自在に設置され、接続部の他端が接続されて被検査プリント配線板の電気的接続状態を測定検査する検査部からなるプリント配線板の検査装置。
IPC (4件):
G01R 31/02
, G01R 1/073
, G01R 31/28
, H05K 3/00
FI (4件):
G01R 31/02
, G01R 1/073 D
, H05K 3/00 V
, G01R 31/28 K
引用特許:
出願人引用 (14件)
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特開昭63-025564
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回路基板の検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-216511
出願人:日本合成ゴム株式会社
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コンタクトピン清掃シート
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-294566
出願人:スズキ株式会社
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回路検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-002438
出願人:住友ベークライト株式会社
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特開平2-002945
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プローブ構造
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-199625
出願人:日東電工株式会社
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特公昭63-014307
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特開昭63-302377
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特公平4-007475
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テスト治具
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-062771
出願人:株式会社日立製作所
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テストヘッド構造およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-096277
出願人:日東電工株式会社
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特開昭54-029053
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フリップチップ接続基板の検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-015114
出願人:日本電気株式会社
-
積層型コネクターおよび回路基板検査用アダプター装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-212599
出願人:ジェイエスアール株式会社
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審査官引用 (18件)
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特開昭63-025564
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回路検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-002438
出願人:住友ベークライト株式会社
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回路基板の検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-216511
出願人:日本合成ゴム株式会社
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特開平2-002945
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プローブ構造
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-199625
出願人:日東電工株式会社
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特公昭63-014307
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コンタクトピン清掃シート
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-294566
出願人:スズキ株式会社
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特公平4-007475
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テスト治具
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-062771
出願人:株式会社日立製作所
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特開平2-002945
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テストヘッド構造およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-096277
出願人:日東電工株式会社
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特公昭63-014307
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特開昭54-029053
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特開昭63-302377
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特公平4-007475
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特開昭54-029053
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フリップチップ接続基板の検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-015114
出願人:日本電気株式会社
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積層型コネクターおよび回路基板検査用アダプター装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-212599
出願人:ジェイエスアール株式会社
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