相関関数測定方法及び装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：北野好人 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-296812
公開番号（公開出願番号）：特開2002-014600
出願日： 2000年09月28日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：

【要約】【課題】高精度に相関ベクトルを校正することができる相関関数測定方法及び装置を提供する。【解決手段】第1の観測信号を処理して第1のスペクトルを求める第1の信号処理手段18a〜22aと、第2の観測信号を処理して第2のスペクトルを求める第2の信号処理手段18b〜22bと、第1の信号処理手段及び第2の信号処理手段に校正信号を入力し、第1の信号処理手段により求められたスペクトルと、第2の信号処理手段により求められたスペクトルとから、各周波数に応じた校正値を求める校正値演算手段26と、校正値演算手段により求められた校正値を用いつつ、第1のスペクトルと第2のスペクトルとの相関関数を求める相関関数演算手段30とを有している。

請求項（抜粋）：

第1の観測信号を第1の信号処理手段により処理して第1のスペクトルを求め、第2の観測信号を第2の信号処理手段により処理して第2のスペクトルを求め、前記第1のスペクトルと前記第2のスペクトルとの相関関数を測定する相関関数測定方法であって、相関関数の測定に先立って、前記第1の信号処理手段及び前記第2の信号処理手段に校正信号を入力し、前記第1の信号処理手段により求められたスペクトルと、前記第2の信号処理手段により求められたスペクトルとから、前記校正信号の周波数に応じた校正値を求め、相関関数の測定の際には、周波数に応じた前記校正値を用いつつ、前記第1のスペクトルと前記第2のスペクトルとの相関関数を求めることを特徴とする相関関数測定方法。

IPC (5件)：

G03H 5/00 , G01R 23/16 , G01S 7/40 , G01S 13/89 , H04B 17/00

FI (6件)：

G03H 5/00 , G01R 23/16 A , G01R 23/16 C , G01S 7/40 C , G01S 13/89 , H04B 17/00 C

Fターム (24件)：

2K008AA08 , 2K008FF21 , 2K008JJ00 , 2K008KK00 , 5J070AH02 , 5J070AH04 , 5J070AH19 , 5J070AH25 , 5J070AH31 , 5J070AH33 , 5J070AH34 , 5J070AH35 , 5J070AJ14 , 5J070AK04 , 5J070BH12 , 5K042AA06 , 5K042BA11 , 5K042CA02 , 5K042CA23 , 5K042DA04 , 5K042FA02 , 5K042FA11 , 5K042GA01 , 5K042GA12

引用特許：

審査官引用 (8件)

波源像可視化方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-289848 出願人：株式会社アドバンテスト
セキュリティーシステム
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-317200 出願人：株式会社トーエイシステム, 株式会社コーポレーションミユキ
特開平1-316679

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