特許

J-GLOBAL ID：200903070129031593

電子部品検査装置

発明者： 西向 一詞
出願人/特許権者： 小松電子株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-262638
公開番号（公開出願番号）：特開2001-141421
出願日： 1999年09月16日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
要約：

【要約】【課題】 垂直方向からの撮像では搭載部品の影になってしまう部分についても撮像することができる電子部品検査装置の提供。【解決手段】 電子部品Aを撮像手段19で撮像し該撮像データに基づいて電子部品Aを検査する際に、撮像手段19で電子部品Aに対し斜め方向から撮像し該撮像データに基づいて電子部品Aを検査する。しかも、回転手段17を用いて載置手段18を回転させることで、該載置手段18に載置された電子部品Aを撮像手段19に対し回転させることになり、よって、複数の異なる斜め方向から撮像手段19により電子部品Aを撮像することが可能となる。

請求項（抜粋）：

電子部品を載置させる載置手段と、該載置手段に載置された前記電子部品を撮像する撮像手段とを具備する電子部品検査装置において、前記撮像手段は、前記載置手段に載置された前記電子部品に対し斜め方向から撮像可能に配置されており、前記載置手段を回転可能に支持する回転手段を具備することを特徴とする電子部品検査装置。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  H05K 13/08

FI (2件)：

H05K 13/08 Q ,  G01B 11/24 A

Fターム (14件)：

2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065CC25 ,  2F065DD00 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065MM03 ,  2F065MM04 ,  2F065PP11 ,  2F065UU04

引用特許：

審査官引用 (4件)

• シャドウマスクの検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-030224   出願人：凸版印刷株式会社
• 微分干渉顕微鏡による計測システムおよび計測方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-107906   出願人：富士通株式会社
• 基板欠損検出方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-126881   出願人：ソニー株式会社
• シャドウマスクの外観検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-119768   出願人：凸版印刷株式会社