特許
J-GLOBAL ID:200903072247479151

低雑音分光エリプソメータ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 吉武 賢次 (外5名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-502401
公開番号(公開出願番号):特表2003-536064
出願日: 2001年06月08日
公開日(公表日): 2003年12月02日
要約:
【要約】光ビームを放射する光源(1)と、光源から放射される光ビームの経路上に配置された偏光子(2)と、偏光子から出力された光ビームを受け取る試料支持体(9)と、解析されるべき試料によって反射されたビームを通過させる偏光検光子(3)と、検光子からのビームを受け取り、かつ、モノクロメータ(5)および光検出器(4)を備えた検出組立品と、検出組立品から出力された信号を処理し、かつ、計数装置(13)を含む信号処理手段(6)とを備えた分光エリプソメータである。冷却手段(12)が、周囲温度よりも低い温度に検出組立品を保持し、それによって、検出器雑音を最小限に抑制し、その結果として、常に、最小限の光子雑音状態下にある。あらゆる発生源(ランプ、検出器、周囲環境)からの雑音を最小限に抑制することによって、楕円偏光解析測定のための最適な条件が、得られることが分る。
請求項(抜粋):
光ビームを放射する光源(1)と、前記光源から放射される光ビームの経路上に配置された偏光子(2)と、前記偏光子から出力された光ビームを受け取る試料支持体(9)と、解析されるべき試料によって反射されたビームを通過させる偏光検光子(3)と、前記検光子からのビームを受け取り、かつ、モノクロメータ(5)および光検出器(4)を備えた検出組立品と、前記検出組立品から出力された信号を処理し、かつ、計数装置(13)を含む信号処理手段(6)とを備えた分光エリプソメータであって、 前記検出組立品を周囲温度よりも低い温度に保持する冷却手段(12)をさらに備えたことを特徴とするエリプソメータ。
IPC (4件):
G01J 4/04 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/33
FI (4件):
G01J 4/04 A ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/27 Z ,  G01N 21/33
Fターム (19件):
2G059AA02 ,  2G059BB00 ,  2G059DD18 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH04 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK01 ,  2G059LL04 ,  2G059NN01 ,  2G059NN03 ,  2G059NN09
引用特許:
審査官引用 (12件)
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