特許
J-GLOBAL ID:200903072413783190
内視鏡装置およびプログラム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 鈴木 三義
, 高柴 忠夫
, 増井 裕士
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-107939
公開番号(公開出願番号):特開2009-258427
出願日: 2008年04月17日
公開日(公表日): 2009年11月05日
要約:
【課題】計測精度の低下を防止することができる計測用内視鏡装置を提供する。【解決手段】計測時にアライメントマーク抽出部18jは、画像データに基づく画像のうち画像処理領域の画像からアライメントマークの形状を抽出する。マスク位置演算部18hは、アライメントマークの情報に基づいてマスク位置情報を生成する。歪補正テーブル演算部18iは、生成されたマスク位置情報に基づいて歪補正テーブルの再計算を行う。歪補正テーブル演算部18iが生成した歪補正テーブルは、制御部18aによって環境データの一部として記憶部18fに格納される。【選択図】図21
請求項(抜粋):
光学系によって結像された被写体像に基づく撮像信号を生成する電子内視鏡を有し、前記光学系を交換可能な挿入部と、
前記撮像信号に基づいて映像信号を生成する映像信号生成部と、
前記映像信号に基づいて前記光学系と前記挿入部との位置関係を検出する位置関係検出部と、
計測対象の被写体を撮像したときに検出された前記位置関係に基づいて、前記光学系の光学特性を示す情報を補正する光学特性補正部と、
補正された前記情報に基づいて、前記計測対象の被写体を撮像したときの前記映像信号に含まれる光学的歪みを補正する映像信号補正部と、
補正後の前記映像信号に基づいて計測処理を行う計測処理部と、
を備えたことを特徴とする内視鏡装置。
IPC (5件):
G02B 23/24
, A61B 1/00
, A61B 1/04
, G02B 23/26
, H04N 7/18
FI (5件):
G02B23/24 B
, A61B1/00 300E
, A61B1/04 370
, G02B23/26 C
, H04N7/18 M
Fターム (29件):
2H040BA15
, 2H040CA02
, 2H040CA22
, 2H040DA14
, 2H040DA52
, 2H040GA00
, 4C061BB06
, 4C061CC06
, 4C061FF40
, 4C061HH52
, 4C061JJ19
, 4C061NN01
, 4C061NN05
, 4C061NN07
, 4C061SS11
, 4C061SS21
, 4C061VV03
, 4C061VV04
, 4C061YY02
, 4C061YY12
, 4C061YY14
, 4C061YY18
, 5C054CC07
, 5C054FC15
, 5C054FD03
, 5C054GA01
, 5C054GA04
, 5C054GB01
, 5C054HA12
引用特許:
出願人引用 (5件)
-
計測内視鏡装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-058114
出願人:オリンパス光学工業株式会社
-
計測内視鏡装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-162869
出願人:オリンパス光学工業株式会社
-
内視鏡装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-212852
出願人:オリンパス株式会社
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審査官引用 (2件)
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