特許
J-GLOBAL ID:200903074209343400
半導体集積回路装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鷲田 公一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-068400
公開番号(公開出願番号):特開2007-249308
出願日: 2006年03月13日
公開日(公表日): 2007年09月27日
要約:
【課題】半導体集積回路上の各機能ブロックが自由に電源電圧、システムクロック周波数を時間軸において変えて、しかも、相互にデータを交換できること。【解決手段】半導体集積回路装置100は、第1の機能ブロック110が、機能ブロック内の回路に供給する第1のシステムクロックを発生する第1のクロック発生回路111と、第1のシステムクロックによりデータを読み出し/書き込みする第1の内部メモリ112と、第1のシステムクロックと第2のシステムクロックとを選択し、該選択したクロックを第1の内部メモリ112に供給するセレクタ113とを有する。第1の内部メモリ111に供給されるクロックには、第1のシステムクロックと第2のシステムクロックからセレクタ113により選択された一のクロックが支給される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
機能ブロック内の回路に供給する第1のシステムクロックを発生する第1のクロック発生回路と、前記第1のシステムクロックによりデータを読み出し/書き込みする第1の内部メモリとを有する第1の機能ブロックと、
機能ブロック内の回路に供給する第2のシステムクロックを発生する第2のクロック発生回路と、前記第2のシステムクロックによりデータを読み出し/書き込みする第2の内部メモリとを有する第2の機能ブロックとから構成される半導体集積回路装置であって、
前記第1の機能ブロックは、
前記第1のシステムクロックと前記第2のシステムクロックとを選択し、該選択したクロックを前記第1の内部メモリに供給する第1の選択手段
を備えることを特徴とする半導体集積回路装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G06F15/78 510P
, G06F1/04 330
, G06F15/78 510F
Fターム (9件):
5B062AA03
, 5B062AA05
, 5B062CC06
, 5B062EE09
, 5B062GG07
, 5B062HH02
, 5B079BC07
, 5B079DD08
, 5B079DD13
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
米国特許第5745375号明細書
-
米国特許第6868503号明細書
審査官引用 (7件)
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