特許
J-GLOBAL ID：200903075166008340
変形挙動の測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
大畑 進
, 栗林 三男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-067038
公開番号（公開出願番号）：特開2008-224605
出願日： 2007年03月15日
公開日（公表日）： 2008年09月25日
要約：
【課題】 一度の試験で複数個の変位等のデータが得られて、精度の良い、変形挙動の測定方法を提供する。【解決手段】 この変形挙動の測定方法は、試験片Sの表面に粒子Pを付着させて試験を行い、付着させた特定の粒子間の変位を測定することを特徴とする。これにより、歪みゲージを用いる方法やペンによるマーキングを用いた画像解析による方法に比べ、一度の試験で複数個の変位等のデータが得られて、精度良く、変形挙動を測定することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試験片の変形挙動を測定する方法において、試験片の表面に粒子を付着させて試験を行い、付着させた特定の粒子間の変位を測定することを特徴とする変形挙動の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (7件)：
2G061AA01
, 2G061AB01
, 2G061BA10
, 2G061CB20
, 2G061EA04
, 2G061EB07
, 2G061EC05
出願人引用 (2件)
審査官引用 (6件)
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