特許
J-GLOBAL ID:200903075889306047

半導体装置,半導体装置の製造方法,表示装置及び表示装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 高松 猛 ,  矢澤 清純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-091567
公開番号(公開出願番号):特開2009-267399
出願日: 2009年04月03日
公開日(公表日): 2009年11月12日
要約:
【課題】暗電流の発生を抑制することができ、有機ELなどの電流駆動素子に好適な半導体装置、半導体装置の製造方法、及び、その半導体装置を備えた表示装置を提供する。【解決手段】基板11と、チャネル領域を有する半導体層18とを備え、チャネル領域が、結晶成分の体積率をVcとし、非結晶成分の体積率をVaとしたときVc/Va>4を満たす酸化物半導体で構成されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板と、チャネル領域を有する半導体層とを備え、 前記チャネル領域が、結晶成分の体積率をVcとし、非結晶成分の体積率をVaとしたときVc/Va>4を満たす酸化物半導体で構成されている半導体装置。
IPC (3件):
H01L 21/336 ,  H01L 29/786 ,  G02F 1/136
FI (4件):
H01L29/78 618Z ,  H01L29/78 618B ,  H01L29/78 619B ,  G02F1/1368
Fターム (45件):
2H092HA04 ,  2H092JA26 ,  2H092JA33 ,  2H092KA08 ,  2H092KA12 ,  2H092KA18 ,  2H092MA29 ,  2H092MA30 ,  2H092NA22 ,  2H092PA09 ,  5F110AA01 ,  5F110AA06 ,  5F110BB01 ,  5F110CC01 ,  5F110CC05 ,  5F110CC07 ,  5F110DD01 ,  5F110DD02 ,  5F110DD03 ,  5F110DD13 ,  5F110DD14 ,  5F110EE07 ,  5F110EE42 ,  5F110FF01 ,  5F110FF02 ,  5F110FF03 ,  5F110FF27 ,  5F110GG01 ,  5F110GG06 ,  5F110GG13 ,  5F110GG15 ,  5F110GG25 ,  5F110GG42 ,  5F110HK02 ,  5F110HK03 ,  5F110HK04 ,  5F110HK06 ,  5F110HK07 ,  5F110NN02 ,  5F110NN44 ,  5F110NN45 ,  5F110NN72 ,  5F110PP01 ,  5F110PP03 ,  5F110PP10
引用特許:
審査官引用 (5件)
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