特許
J-GLOBAL ID:200903075889306047
半導体装置,半導体装置の製造方法,表示装置及び表示装置の製造方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
高松 猛
, 矢澤 清純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-091567
公開番号(公開出願番号):特開2009-267399
出願日: 2009年04月03日
公開日(公表日): 2009年11月12日
要約:
【課題】暗電流の発生を抑制することができ、有機ELなどの電流駆動素子に好適な半導体装置、半導体装置の製造方法、及び、その半導体装置を備えた表示装置を提供する。【解決手段】基板11と、チャネル領域を有する半導体層18とを備え、チャネル領域が、結晶成分の体積率をVcとし、非結晶成分の体積率をVaとしたときVc/Va>4を満たす酸化物半導体で構成されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板と、チャネル領域を有する半導体層とを備え、
前記チャネル領域が、結晶成分の体積率をVcとし、非結晶成分の体積率をVaとしたときVc/Va>4を満たす酸化物半導体で構成されている半導体装置。
IPC (3件):
H01L 21/336
, H01L 29/786
, G02F 1/136
FI (4件):
H01L29/78 618Z
, H01L29/78 618B
, H01L29/78 619B
, G02F1/1368
Fターム (45件):
2H092HA04
, 2H092JA26
, 2H092JA33
, 2H092KA08
, 2H092KA12
, 2H092KA18
, 2H092MA29
, 2H092MA30
, 2H092NA22
, 2H092PA09
, 5F110AA01
, 5F110AA06
, 5F110BB01
, 5F110CC01
, 5F110CC05
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD02
, 5F110DD03
, 5F110DD13
, 5F110DD14
, 5F110EE07
, 5F110EE42
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF27
, 5F110GG01
, 5F110GG06
, 5F110GG13
, 5F110GG15
, 5F110GG25
, 5F110GG42
, 5F110HK02
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK06
, 5F110HK07
, 5F110NN02
, 5F110NN44
, 5F110NN45
, 5F110NN72
, 5F110PP01
, 5F110PP03
, 5F110PP10
引用特許:
前のページに戻る