特許
J-GLOBAL ID：200903076472355653
平面表示装置の品位検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-284476
公開番号（公開出願番号）：特開平11-108796
出願日： 1997年09月30日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】【課題】 ラインセンサを構成する複数の検出素子の感度のバラツキや集光レンズの特性のバラツキなどに起因するラインセンサの検出素子における受光光量のムラや差を補正し、FPDを高精度に品位検査することができる検査装置を提供すること。【解決手段】 平面表示装置を点灯しないときにおけるラインセンサの出力IBと、標準光源を点灯したときにおけるラインセンサの出力IWとを用い、平面表示装置を点灯したときにおけるラインセンサの出力Iinを、下記(1)式または(2)式によって補正し、補正データIout としている。Iout ={(Iin-IB)/(IW-IB)}×K ......(1)Iout ={log(Iin-IB)-log(IW-IB)}×K ......(2)
請求項（抜粋）：
平面表示装置の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサでスキャンして、平面表示装置の各素子の光量を計測し、平面表示装置の各素子の輝度の良否判定を行うようにした平面表示装置の品位検査装置において、前記平面表示装置を点灯しないときにおけるラインセンサの出力IBと、標準光源を点灯したときにおけるラインセンサの出力IWとを用い、平面表示装置を点灯したときにおけるラインセンサの出力Iinを、下記(1)式または(2)式によって補正し、補正データIout とすることを特徴とする平面表示装置の品位検査装置。 Iout ={(Iin-IB)/(IW-IB)}×K ......(1) Iout ={log(Iin-IB)-log(IW-IB)}×K ......(2) (ここで、Kは定数である。)
引用特許：
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