特許
J-GLOBAL ID:200903076834309426
シリコン系薄膜の作製方法、及びシリコン系薄膜
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉村 興作
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-004214
公開番号(公開出願番号):特開2005-197581
出願日: 2004年01月09日
公開日(公表日): 2005年07月21日
要約:
【課題】プラズマCVD法において、欠陥密度の少ない高品質なシリコン系薄膜を形成する。【解決手段】所定の基材を塩素系シランガスを含む雰囲気中に配置する。次いで、前記雰囲気に高周波などを印加することによりプラズマ化し、前記基材上に、プラズマCVD法によりシリコン系薄膜を形成する。【選択図】なし
請求項(抜粋):
所定の基材を塩素系シランガスを含む雰囲気中に配置する工程と、
前記基材上に、プラズマCVD法によりシリコン系薄膜を形成する工程と、
を具えることを特徴とする、シリコン系薄膜の作製方法。
IPC (3件):
H01L21/205
, C23C16/24
, H01L31/04
FI (3件):
H01L21/205
, C23C16/24
, H01L31/04 B
Fターム (26件):
4K030AA03
, 4K030AA06
, 4K030AA20
, 4K030BA29
, 4K030CA06
, 4K030FA01
, 4K030JA06
, 4K030LA16
, 5F045AA08
, 5F045AB02
, 5F045AC01
, 5F045AC05
, 5F045AC19
, 5F045AD06
, 5F045AE19
, 5F045AE21
, 5F045AF07
, 5F045BB16
, 5F045CA13
, 5F045EB11
, 5F051AA04
, 5F051AA05
, 5F051AA16
, 5F051CA07
, 5F051CA15
, 5F051FA02
引用特許: