特許
J-GLOBAL ID:200903076834309426

シリコン系薄膜の作製方法、及びシリコン系薄膜

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 興作
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-004214
公開番号(公開出願番号):特開2005-197581
出願日: 2004年01月09日
公開日(公表日): 2005年07月21日
要約:
【課題】プラズマCVD法において、欠陥密度の少ない高品質なシリコン系薄膜を形成する。【解決手段】所定の基材を塩素系シランガスを含む雰囲気中に配置する。次いで、前記雰囲気に高周波などを印加することによりプラズマ化し、前記基材上に、プラズマCVD法によりシリコン系薄膜を形成する。【選択図】なし
請求項(抜粋):
所定の基材を塩素系シランガスを含む雰囲気中に配置する工程と、 前記基材上に、プラズマCVD法によりシリコン系薄膜を形成する工程と、 を具えることを特徴とする、シリコン系薄膜の作製方法。
IPC (3件):
H01L21/205 ,  C23C16/24 ,  H01L31/04
FI (3件):
H01L21/205 ,  C23C16/24 ,  H01L31/04 B
Fターム (26件):
4K030AA03 ,  4K030AA06 ,  4K030AA20 ,  4K030BA29 ,  4K030CA06 ,  4K030FA01 ,  4K030JA06 ,  4K030LA16 ,  5F045AA08 ,  5F045AB02 ,  5F045AC01 ,  5F045AC05 ,  5F045AC19 ,  5F045AD06 ,  5F045AE19 ,  5F045AE21 ,  5F045AF07 ,  5F045BB16 ,  5F045CA13 ,  5F045EB11 ,  5F051AA04 ,  5F051AA05 ,  5F051AA16 ,  5F051CA07 ,  5F051CA15 ,  5F051FA02
引用特許:
審査官引用 (4件)
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