特許
J-GLOBAL ID:200903077289123693

レジスト材料及びそれを用いたパターン形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 前田 弘 ,  小山 廣毅 ,  竹内 宏 ,  竹内 祐二 ,  今江 克実 ,  原田 智雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-109633
公開番号(公開出願番号):特開2005-292613
出願日: 2004年04月02日
公開日(公表日): 2005年10月20日
要約:
【課題】 レジスト膜における解像度(溶解コントラスト)を向上して、良好な形状を持つ微細パターンを得られるようにする。 【解決手段】 基板101の上に酸化チタンを含むレジスト膜102を形成し、続いて、形成したレジスト膜102に波長が400nm以下の光又は電子線からなる露光光103をマスク104を介して照射してパターン露光を行なう。その後、パターン露光を行なったレジスト膜102に対して現像を行なうことにより、レジスト膜102aの未露光部からなるレジストパターン102aを形成する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
酸化チタンを含むことを特徴とするレジスト材料。
IPC (4件):
G03F7/004 ,  G03F7/039 ,  G03F7/26 ,  H01L21/027
FI (4件):
G03F7/004 501 ,  G03F7/039 601 ,  G03F7/26 511 ,  H01L21/30 502R
Fターム (35件):
2H025AA02 ,  2H025AA03 ,  2H025AA04 ,  2H025AB16 ,  2H025AC01 ,  2H025AC04 ,  2H025AC06 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BB00 ,  2H025BE00 ,  2H025BE01 ,  2H025BE07 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025BH03 ,  2H025CB16 ,  2H025CB17 ,  2H025CB29 ,  2H025CC20 ,  2H025DA40 ,  2H025FA17 ,  2H096AA25 ,  2H096BA10 ,  2H096BA11 ,  2H096CA05 ,  2H096EA02 ,  2H096EA03 ,  2H096EA04 ,  2H096EA06 ,  2H096EA23 ,  2H096GA08 ,  2H096HA07 ,  2H096KA19 ,  2H096LA07
引用特許:
審査官引用 (8件)
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