特許
J-GLOBAL ID:200903077504241040

自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井上 学
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-048387
公開番号(公開出願番号):特開2008-209338
出願日: 2007年02月28日
公開日(公表日): 2008年09月11日
要約:
【課題】 オペレータが事前に精度管理試料の準備をしておけば、外部からの要因によって精度管理試料の分析を行えるようにすることで、オペレータの負担を低減させることが可能で、かつ精度管理を行わなければならない適切な時期に必ず精度管理を実現することが出来、測定精度を自動で維持できる自動分析装置を提供することにある。【解決手段】 装置内に精度管理試料を保持し、標準試料の投入、分析中の試薬の残数が所定の条件を満たした(0になった、指定値を下回った)、日付が変わった、指定時刻になった、操作者が変わった、検体数が超過した、時間が経過した、新規試薬が登録された、測定異常を検出した、等の要因により、保持している精度管理試料に対する分析依頼を生成し、精度管理試料の搬送をすることで、精度管理試料の分析を行う。【選択図】図1
請求項(抜粋):
検体を分析する分析ユニットと、前記検体を保持する検体容器を載置する検体ラックを前記分析ユニットに搬送するラック搬送装置と、検体ラックを該ラック搬送装置に投入するラック投入口と、精度管理試料を前記ラックに設置した状態で装置内に保持する機構を備えた自動分析装置において、 標準試料が装置内に投入された場合、標準試料の依頼項目に応じた所定の測定依頼を精度管理試料に対して生成し、装置内に保持された精度管理試料を標準試料の後に分析するように搬送する制御手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件):
G01N 35/00 ,  G01N 35/02
FI (2件):
G01N35/00 F ,  G01N35/02 G
Fターム (11件):
2G058CB09 ,  2G058CB15 ,  2G058GC02 ,  2G058GC05 ,  2G058GC06 ,  2G058GD01 ,  2G058GD05 ,  2G058GE03 ,  2G058GE06 ,  2G058GE09 ,  2G058GE10
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 検体分析システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-065866   出願人:株式会社日立製作所
審査官引用 (9件)
  • 画像入力装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-229366   出願人:株式会社東芝
  • 精度管理試料の測定方法及びその装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-275833   出願人:株式会社日立製作所
  • 自動分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-059880   出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
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