IC測定治具及びIC測定方法

発明者： , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：鈴木利之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-260913
公開番号（公開出願番号）：特開平9-082437
出願日： 1995年09月14日
公開日（公表日）： 1997年03月28日
要約：

【要約】【課題】 ICを保持したICキャリアをプローブ針支持体に押し付けてICのリードの肩部にプローブ針を接触させるようにして、ICの搬送などの取扱いを容易にし、搬送状態ではICのリードがどこにも電気的に接触していないようにする。【解決手段】 IC供給ステーションにおいて、キャリアトレー38をIC押さえ開閉板74に押し付けることにより、開閉ピン78がIC押さえ18に接触して、IC押さえ18を開放する。その状態で、ICキャリア10にIC28を載せる。キャリアトレー38をIC押さえ開閉板74から離すと、IC押さえ18によってIC28がICキャリア10に保持される。次に、測定ステーションにおいて、キャリアトレー38を支持台60に押し付けると、IC28のリード30の肩部にプローブ針36が接触する。

請求項（抜粋）：

複数のリードを有するICをIC押さえによって着脱可能に保持できるICキャリアと、前記リードの配列に対応して配置された複数のプローブ針を露出した状態で支持するプローブ針支持体と、前記ICキャリアのIC押さえに接触することによってIC押さえを開閉できる開閉ピンとを備え、ICを保持した前記ICキャリアを前記プローブ針支持体に位置決め可能に装着することにより前記リードの肩部を前記プローブ針に接触させることを特徴とするIC測定治具。

IPC (4件)：

H01R 33/76 , G01R 1/073 , G01R 31/26 , H01L 21/68

FI (4件)：

H01R 33/76 , G01R 1/073 B , G01R 31/26 J , H01L 21/68 N

引用特許：

審査官引用 (5件)

精密部品搬送用トレー
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-341429 出願人：ゴールド工業株式会社
LCCパツケージ用キヤリア
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-177068 出願人：富士通株式会社
半導体装置の測定用プローブボード
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-018073 出願人：ソニー株式会社

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