特許
J-GLOBAL ID:200903077742830754

データ校正方法および校正データの提供方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 長門 侃二 ,  山中 純一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-080278
公開番号(公開出願番号):特開2005-265686
出願日: 2004年03月19日
公開日(公表日): 2005年09月29日
要約:
【課題】 被計測物の性状に応じて得られる変換係数に従ってセンサの出力値を変換した計測値を求める計測器において、変換係数を求める被計測物のサンプリング時に遡って計測値を求めることが可能な計測器の校正方法および校正データの提供方法を提供する。【解決手段】 被計測物の特性を計測するセンサと、被計測物の性状に応じて求められた変換係数に従ってセンサの出力値を変換した計測値を求める演算手段とを備えた計測器に対して、被計測物をサンプリングして性状分析に供すると共に、サンプリング時点におけるセンサの出力値、変換係数および出力値から演算して求められる計測値の少なくとも二つを記憶し、性状分析の結果に基づき被計測物をサンプリングした時点での記被計測物の性状に応じた新たな変換係数に従ってサンプリング時点以降の計測値を求める。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被計測物の特性を計測するセンサと、前記被計測物の性状に応じて求められた変換係数に従って前記センサの出力値を変換した計測値を求める演算手段とを備えた計測器に対して、 前記被計測物をサンプリングして性状分析に供すると共に、この被計測物のサンプリング時点における前記センサの出力値、前記変換係数および前記計測値の少なくとも二つを記憶し、 前記性状分析の結果が得られたとき、その分析結果に基づき前記被計測物をサンプリングした時点での前記被計測物の性状に応じた新たな変換係数を求め、 前記サンプリング時点以降の前記センサの出力値または前記サンプリング時点以前の変換係数に従って求めた計測値から、前記サンプリング時点に遡ってこの新たな変換係数に従って新たに計測値を求めることを特徴とする前記計測器に対するデータ校正方法。
IPC (2件):
G01N1/00 ,  G01N15/06
FI (2件):
G01N1/00 C ,  G01N15/06 C
Fターム (4件):
2G052AD09 ,  2G052GA11 ,  2G052HB08 ,  2G052HB10
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 異常値検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-155442   出願人:株式会社安川電機
審査官引用 (8件)
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