特許
J-GLOBAL ID：200903078845294938
評価装置、再生装置、評価方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
脇 篤夫
, 鈴木 伸夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-200235
公開番号（公開出願番号）：特開2007-018622
出願日： 2005年07月08日
公開日（公表日）： 2007年01月25日
要約：
【課題】 複数のエラーパターンが検出エラーに寄与する場合にも、より簡易に全体エラーレートと相関する信号品質評価指標を算出できるようにする。【解決手段】 予め定められた所定複数のエラーパターンごとに求めたメトリック差分MDの値を、それぞれの上記エラーパターンでの最尤パスと第2パスとのユークリッド距離を共通の値で除算した個別の閾値によりそれぞれ比較し、上記閾値を下回る上記メトリック差分の値の総数を評価値として算出する。これによって、単に上記閾値を下回るメトリック差分の値の数を足し合わせるだけという非常に簡易な計算により、各エラーパターンの寄与率を反映した全体エラーレートと良く相関する信号品質評価指標を得ることができる。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
ビット情報を再生した再生信号からビタビ検出を行ってビット検出を行うビタビ検出手段と、
上記ビタビ検出手段におけるパスの選択の結果生き残った最尤パスとこの最尤パスと最終的に比較された第2パスのうち、少なくともエラーパターンが予め定められた所定複数のエラーパターンの何れかに該当するものについて、上記第2パスに対するパスメトリックの値と上記最尤パスに対するパスメトリックの値との差分であるメトリック差分を算出するメトリック差分算出手段と、
上記メトリック差分算出手段により算出された上記エラーパターンごとのメトリック差分の値を、それぞれの上記エラーパターンでの上記最尤パスと上記第2パスとのユークリッド距離を共通の値で除算した個別の閾値によりそれぞれ比較し、上記閾値を下回る上記メトリック差分の値の総数を評価値として算出する評価値算出手段と、
を備えることを特徴とする評価装置。
IPC (2件)：
FI (7件)：
G11B20/18 550C
, G11B20/18 534A
, G11B20/18 570F
, G11B20/18 572C
, G11B20/18 572F
, G11B20/10 321A
, G11B20/10 341B
5D044AB01
, 5D044AB05
, 5D044AB07
, 5D044BC02
, 5D044CC04
, 5D044FG01
, 5D044FG05
, 5D044GK18
, 5D044GL32
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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