特許
J-GLOBAL ID：200903079733609649
交流電場を用いて微粒子を質量分級する微粒子計測装置および計測方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三林 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-296262
公開番号（公開出願番号）：特開2008-111791
出願日： 2006年10月31日
公開日（公表日）： 2008年05月15日
要約：
【課題】気体中の微粒子を質量によって分級しながら、正確に且つ簡便に計測する。【解決手段】微粒子を帯電させて、大気圧以下の所定圧力を有する気体とともに通路部に供給する。そして、等角度ずつ位相をずらした複数組の交流電圧を、気体の流れと直交する方向に印加する。こうすれば、微粒子は通路部内を振動しながら進行し、電圧波形に応じた特定の質量を有する微粒子のみが、通路部を通過することができる。こうすれば、微粒子を、直接的な方法によって質量により分級することができるので、正確に且つ簡便に計測することができる。異なる質量の微粒子を分級するためには、電圧波形を変えるだけでよい。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
気体中に含まれる微粒子を分級しながら計測する微粒子計測装置であって、
大気圧以下の所定圧力を有する気体とともに前記微粒子が通過する通路部と、
前記通路部の上流側に設けられて前記微粒子を帯電させる微粒子帯電部と、
等角度ずつ位相をずらした複数組の交流電圧を、前記気体の流れと直交する方向に印加することにより、前記通路部を通過する前記帯電した微粒子を質量によって選択的に分離する微粒子分離手段と、
前記選択的に分離された微粒子を検出する微粒子検出手段と
を備える微粒子計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N15/02 F
, G01N27/60 C
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (5件)
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微粒子分級方法及び装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平10-314297
出願人：松下技研株式会社
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エアロゾル粒子質量分析器
公報種別：公開公報
出願番号：特願平5-222789
出願人：工業技術院長
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特開平3-236149
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引用文献：
出願人引用 (1件)
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第2版 機器分析のてびき 第1集, 19960210, P.79-82
審査官引用 (1件)
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第2版 機器分析のてびき 第1集, 19960210, P.79-82
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