特許
J-GLOBAL ID：200903080406564842
オゾン注入制御装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 天城国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-348023
公開番号（公開出願番号）：特開2008-155151
出願日： 2006年12月25日
公開日（公表日）： 2008年07月10日
要約：
【課題】臭素酸を抑制しつつ適切なオゾン処理効果を得ることができるオゾン注入制御装置を提供する。【解決手段】オゾン処理槽11に流入した被処理水に対しオゾンを注入処理するためのオゾン注入制御装置で、オゾン処理槽に流入する被処理水のpHをpH計24で測定すると共にこの被処理水の蛍光強度を第1の蛍光分析計23で測定する。また、オゾン処理槽でオゾンが注入処理された処理水の蛍光強度を第2の蛍光分析計25で測定する。また、オゾン処理槽でオゾンが注入処理された処理水の残存蛍光率の目標値を蛍光残存率設定手段30で設定する。さらに、この設定された目標値を、pH計で測定されたpH値に基いて補正手段31で補正する。この補正された蛍光残存率目標値と、第2の蛍光分析計の測定値を第1の蛍光分析計の測定値で除算した実際の蛍光残存率とから、オゾン注入率演算手段32でオゾン処理槽へのオゾン注入率を求める。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
オゾン処理槽に流入した被処理水に対しオゾンを注入処理するためのオゾン注入制御装置であって、
前記オゾン処理槽に流入する被処理水のpHを測定するpH計及び前記被処理水の蛍光強度を測定する第1の蛍光分析計と、
前記オゾン処理槽でオゾンが注入処理された処理水の蛍光強度を測定する第2の蛍光分析計と、
前記オゾン処理槽でオゾンが注入処理された処理水の残存蛍光率の目標値を設定する蛍光残存率設定手段と、
この蛍光残存率設定手段で設定された設定値を、前記pH計で測定されたpH値に基いて補正する補正手段と、
この補正手段によって補正された蛍光残存率目標値と前記第2の蛍光分析計の測定値を前記第1の蛍光分析計の測定値で除算した実際の蛍光残存率とから、前記オゾン処理槽に対するオゾン注入率を求めるオゾン注入率演算手段と
を備えたことを特徴とするオゾン注入制御装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (13件)：
2G043AA03
, 2G043CA03
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043GA08
, 2G043GB21
, 4D050AA01
, 4D050BB02
, 4D050BD02
, 4D050BD03
, 4D050BD04
, 4D050BD06
, 4D050BD08
出願人引用 (1件)
-
水処理方法及び装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平10-295708
出願人：富士電機株式会社
審査官引用 (3件)
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