特許
J-GLOBAL ID：200903080566547480

ダイオキシン分析方法及び装置

発明者：
広田 健

広田 健 について

, 
冨永 成

冨永 成 について


出願人/特許権者：
バブコック日立株式会社

バブコック日立株式会社 について


代理人 (1件)： 松永 孝義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-356018
公開番号（公開出願番号）：特開2002-162323
出願日： 2000年11月22日
公開日（公表日）： 2002年06月07日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 簡易且つ迅速に大気、排気ガス又は土壌中のダイオキシンの分析法と装置の提供。【解決手段】 試料ガスを捕集管4に導入し、試料ガス中のダイオキシン類及びフラン類を捕集管4内に充填された捕集剤に吸着させた後、捕集管4を取り出し、加熱装置8内で加熱して捕集剤に吸着された試料ガス中のダイオキシン類及びフラン類を脱離させ、これをガスクロマトグラフィー9を用いて検出する。塩素数7及び/又は8のダイオキシン類の量を定量分析することによって、予め求められている前記化合物の含有量と全ダイオキシン類のTEQ(毒性等量)との相関関係を示す検量線から全ダイオキシン類のTEQ(毒性等量)を求める。捕集剤として表面積が5〜50m2/gの粒子状の耐熱性樹脂又はカーボンブラック又はそれらの混合物を用いることで定量分析が可能になる。
請求項（抜粋）：
試料ガスを試料ガス流路に導入し、試料ガス中のダイオキシン類及びフラン類を試料ガス流路に配置された捕集剤に吸着させた後、試料ガス流路とは離れて配置される前記試料ガス流路から取り出した捕集剤を加熱して、捕集剤から全ダイオキシン類及びフラン類を脱離させ、これをガス成分分析装置を用いて計測するに際して、試料ガス中の塩素数7及び/又は塩素数8のダイオキシン類及びフラン類の量をガス成分分析装置により定量分析することによって、予め求められている前記化合物の含有量と全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)との相関関係を示す検量線から全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)を求めるダイオキシン分析方法において、捕集剤として表面積が5〜50m2/gの粒子状の耐熱性樹脂又はカーボンブラック又はそれらの混合物を使用することを特徴とするダイオキシン分析方法。
IPC (3件)：
G01N 1/22 ,  G01N 30/00 ,  G01N 33/00
FI (4件)：
G01N 1/22 L ,  G01N 30/00 A ,  G01N 30/00 E ,  G01N 33/00 D
引用特許：
審査官引用 (10件)
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