特許
J-GLOBAL ID：200903081265259346
距離計および距離計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山川 政樹
, 山川 茂樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-003147
公開番号（公開出願番号）：特開2008-170251
出願日： 2007年01月11日
公開日（公表日）： 2008年07月24日
要約：
【課題】不適切な測定結果を除外して測定対象との距離を正しく計測する。【解決手段】距離計は、発振波長が増加する第1の発振期間と発振波長が減少する第2の発振期間とが交互に存在するように半導体レーザ1を動作させるレーザドライバ4と、半導体レーザ1から放射されたレーザ光と測定対象12からの戻り光とを電気信号に変換するフォトダイオード2と、フォトダイオード2の出力信号に含まれる、レーザ光と戻り光とによって生じる干渉波形の数を数え、計数期間における干渉波形の数の変化に基づいて計数結果の有効性を判定する計数装置8と、計数装置8によって有効と判定された計数結果から測定対象12との距離を求める演算装置9とを有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定対象にレーザ光を放射する半導体レーザと、
発振波長が連続的に単調増加する期間を少なくとも含む第1の発振期間と発振波長が連続的に単調減少する期間を少なくとも含む第2の発振期間とが交互に存在するように前記半導体レーザを動作させるレーザドライバと、
前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光とを電気信号に変換する受光器と、
この受光器の出力信号に含まれる、前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光とによって生じる干渉波形の数を数える計数手段と、
前記干渉波形の数を数える計数期間における前記干渉波形の数の変化に基づいて前記計数手段の計数結果の有効性を判定する判定手段と、
前記判定手段によって有効と判定された前記計数手段の計数結果から前記測定対象との距離を求める演算手段とを有することを特徴とする距離計。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2F065AA06
, 2F065DD02
, 2F065FF51
, 2F065GG06
, 2F065JJ03
, 2F065JJ18
, 2F065NN06
, 2F065QQ13
, 2F065QQ51
