外観検査方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西川惠清 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-169261
公開番号（公開出願番号）：特開平11-015975
出願日： 1997年06月25日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】被検査物の形状にわずかな相違があっても被検査物の輪郭線近傍の欠陥部を確実に抽出可能な外観検査方法を提供する。【解決手段】画像内で円形の輪郭線を持つ被検査物の中心位置を求め(S3)、この中心位置を中心とする円形の円形状ラインを設定する(S5)。被検査物の輪郭線に円形状ラインが重なるまで円形状ラインの半径を1画素ずつ変化させる(S4,S6,S7)。被検査物の輪郭線に重なる円形状ラインを探索ラインとして(S8)、探索ライン上の欠陥部の有無を検出する(S9)。

請求項（抜粋）：

画像内で円形の輪郭線を持つ被検査物の中心位置を求め、この中心位置を中心とする円形の円形状ラインを設定するとともに被検査物の輪郭線に円形状ラインが重なるまで円形状ラインの半径を1画素ずつ変化させ、被検査物の輪郭線に重なる円形状ラインを探索ラインとして、探索ライン上の欠陥部の有無を検出することを特徴とする外観検査方法。

IPC (2件)：

G06T 7/00 , G01N 21/88

FI (3件)：

G06F 15/70 330 M , G01N 21/88 J , G06F 15/62 400

引用特許：

出願人引用 (6件)

特公平7-018811
図形認識装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-022671 出願人：エヌ・ティ・ティ・データ通信株式会社
円形状対象物検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-025510 出願人：松下電器産業株式会社

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審査官引用 (4件)

特公平7-018811
図形認識装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-022671 出願人：エヌ・ティ・ティ・データ通信株式会社
円形状対象物検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-025510 出願人：松下電器産業株式会社

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