特許
J-GLOBAL ID：200903082675876187

果菜類の非破壊品質評価装置及び非破壊品質評価方法

発明者：
玉野 和保

玉野 和保 について


出願人/特許権者：
株式会社宝計機製作所

株式会社宝計機製作所 について

, 
学校法人鶴学園

学校法人鶴学園 について


代理人 (1件)： 井上 浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-206858
公開番号（公開出願番号）：特開2008-032556
出願日： 2006年07月28日
公開日（公表日）： 2008年02月14日
要約：
【課題】果菜類の糖度と酸度を同時に非接触かつ非破壊で高精度に測定できるとともに、持ち運びが容易な果菜類の非破壊品質評価装置及びそれを用いた非破壊品質評価方法を提供する。【解決手段】果菜類の非破壊品質評価装置1は、ミカン2などの果菜類に近赤外光を照射する発光部12と、透過近赤外光による投影画像を取り込んでその輝度分布を求める撮像部13及び画像処理部14と、交流磁界を発生してミカン2の内部に渦電流を生じさせる磁界発生部16と、この渦電流によって生じる誘導起電力又は誘導電流を検出する検出部17と、投影画像の最大輝度及び最小輝度を算出する演算部15とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
果菜類に近赤外光を照射する発光部と、この近赤外光によって投影される前記果菜類の画像を取り込む撮像部と、この画像の輝度分布を求める画像処理部と、この輝度分布から最大輝度と最小輝度との差(以下、谷深さという。)を算出する演算部とを備えることを特徴とする果菜類の非破壊品質評価装置。
IPC (2件)：
G01N 21/41 ,  G01N 27/72
FI (2件)：
G01N21/41 Z ,  G01N27/72
Fターム (26件)：
2G053AA01 ,  2G053AB21 ,  2G053AB27 ,  2G053BA08 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA18 ,  2G053DA01 ,  2G053DA09 ,  2G053DB02 ,  2G059AA01 ,  2G059BB11 ,  2G059CC20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE04 ,  2G059EE11 ,  2G059FF06 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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