特許
J-GLOBAL ID：200903082846857658

電磁波を用いた検出方法、及び検出装置

発明者：
米山 春子

米山 春子 について

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山下 将嗣

山下 将嗣 について

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尾内 敏彦

尾内 敏彦 について

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笠井 信太郎

笠井 信太郎 について


出願人/特許権者：
独立行政法人理化学研究所

独立行政法人理化学研究所 について

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キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 加藤 一男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-308254
公開番号（公開出願番号）：特開2008-164594
出願日： 2007年11月29日
公開日（公表日）： 2008年07月17日
要約：
【課題】テラヘルツ波の周波数帯の固有振動スペクトルの有無に関わらず物質の状態の変化を、テラヘルツ波を用いて検出することができる検出方法及び装置を提供する。【解決手段】検出装置は、物質8を保持する検体保持部と、照射手段1、6と、検出手段1、7と、算出手段と、評価手段を有する。照射手段1、6は、検体保持部に保持される物質8にテラヘルツ波を照射する。検出手段1、7は、物質8から透過又は反射してきたテラヘルツ波を検出する。算出手段は、照射したテラヘルツ波に対する物質8の性質の周波数依存性を求め、物質8の性質の周波数依存性の、直線近似したときの直線の傾き又は直線の傾きを算出する。評価手段は、予め求められた基準状態の物質の性質の周波数依存性の直線の傾きと算出手段で算出した物質8の直線の傾きとを比較し、物質の状態の変化を評価する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
0.1THz乃至10THzの周波数範囲から選択される電磁波を用いて物質の状態の変化を検出する検出方法であって、 物質を検体保持部に配置する第1の工程と、 前記物質に前記電磁波を照射する第2の工程と、 前記物質から透過又は反射してきた電磁波を検出する第3の工程と、 前記検出した電磁波と前記照射した電磁波の情報から、前記照射した電磁波に対する前記物質の性質の周波数依存性を求め、前記物質の性質の周波数依存性の、直線近似したときの直線の傾き又は直線の傾きを算出する第4の工程と、 予め求められた基準状態の前記物質の性質の周波数依存性の直線の傾きと前記第4の工程で算出した前記物質の直線の傾きとを比較し、前記物質の状態の変化を評価する第5の工程と、 を有することを特徴とする検出方法。
IPC (3件)：
G01N 21/35 ,  G01N 21/27 ,  G01N 33/68
FI (3件)：
G01N21/35 Z ,  G01N21/27 C ,  G01N33/68
Fターム (53件)：
2G045AA25 ,  2G045DA36 ,  2G045FA13 ,  2G045FA14 ,  2G045GC10 ,  2G045GC11 ,  2G045JA01 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB04 ,  2G059BB08 ,  2G059BB09 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC01 ,  2G059CC12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD01 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG08 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ24 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059MM13 ,  2G059MM20 ,  2G059NN01
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (6件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)

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