偏光状態測定装置、円二色性測定装置及びその方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (6件)：三好秀和 , 岩▲崎▼ 幸邦 , 川又澄雄 , 伊藤正和 , 高橋俊一 , 高松俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-280367
公開番号（公開出願番号）：特開2007-093289
出願日： 2005年09月27日
公開日（公表日）： 2007年04月12日
要約：

【課題】測定精度及び測定時間が向上した小型で安価な偏光状態測定装置、及び円二色性測定装置を提供する。【解決手段】偏光状態測定装置(10)は、所定の帯域成分を含む光の所定の偏光成分を透過させる第1の偏光子(22)と、第1の偏光子を透過した光を所望の偏光に変調する偏光変調手段(24)と、偏光変調手段を介して測定対象(S)を透過した光の所定の偏光成分を透過させる第2の偏光子(48)と、第2の偏光子を透過した光の光強度を検出する検出手段(50)と、検出手段で検出した光強度をフーリエ級数で表したときのフーリエ係数に基づいて測定対象の偏光状態を計測する計測手段(52)と、を有し、偏光変調手段が、第1及び第2の液晶素子(26、28)と、液晶素子への印加電圧を制御する電圧制御手段(30、32)と、を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光透過性を有する測定対象の偏光状態を計測する偏光状態測定装置において、所定の帯域成分を含む光の所定の偏光成分を透過させる第1の偏光子と、前記第1の偏光子を透過した光を所望の偏光に変調する偏光変調手段と、前記偏光変調手段を介して前記測定対象を透過した光の所定の偏光成分を透過させる第2の偏光子と、前記第2の偏光子を透過した光の光強度を検出する検出手段と、前記検出手段で検出した光強度をフーリエ級数で表したときのフーリエ係数に基づいて前記測定対象の偏光状態を計測する計測手段と、を有し、前記偏光変調手段が、第1及び第2の液晶素子と、前記液晶素子への印加電圧を制御する電圧制御手段と、を有する、ことを特徴とする偏光状態測定装置。

IPC (5件)：

G01N 21/21 , G01J 4/04 , G01N 21/19 , G02F 1/13 , G02F 1/133

FI (6件)：

G01N21/21 Z , G01J4/04 D , G01J4/04 Z , G01N21/19 , G02F1/13 101 , G02F1/1335 510

Fターム (35件)：

2G059AA01 , 2G059AA02 , 2G059BB08 , 2G059BB12 , 2G059BB13 , 2G059CC12 , 2G059CC16 , 2G059EE05 , 2G059GG04 , 2G059GG06 , 2G059JJ05 , 2G059JJ18 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059KK01 , 2G059MM01 , 2H088EA44 , 2H088EA47 , 2H088EA48 , 2H088EA68 , 2H088FA30 , 2H088GA02 , 2H088GA13 , 2H088HA16 , 2H088HA18 , 2H088HA21 , 2H088HA28 , 2H088MA20 , 2H091FA07X , 2H091FA07Z , 2H091FA11X , 2H091FA11Z , 2H091FC29 , 2H091FC30 , 2H091LA30

引用特許：

出願人引用 (1件)

旋光度測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-228202 出願人：シチズン時計株式会社

審査官引用 (5件)

旋光度測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-368042 出願人：シチズン時計株式会社
偏光制御装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-368943 出願人：スタンレー電気株式会社, 飯村靖文
位相差板及びそれを用いた液晶表示素子
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-092862 出願人：出光興産株式会社

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