タイミング保持機能を搭載したIC試験装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：草野卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-208653
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033523
出願日： 1999年07月23日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：

【要約】【課題】 IC試験装置を構成するピンカードを交換する際にIC試験装置を休止させておく時間を短縮する。【解決手段】被試験ICに試験パターン信号を供給する試験パターン供給経路及び信号読取回路にストローブパルスを供給するストローブパルス供給経路の各信号伝搬時間を各ピンカード毎に計測し、その計測値と予め規定した遅延時間との差を求め、この差の時間を遅延補正データとして各ピンカードに搭載した不揮発メモリに記憶して用意した構成のピンカード。

請求項（抜粋）：

被試験ICの各端子毎に設けられ、試験パターン信号を被試験ICに供給する試験パターン供給経路と、この試験パターン供給経路の信号伝搬遅延時間を調整するための可変遅延素子と、この可変遅延素子の遅延時間を設定するレジスタとを搭載して構成されるピンカードにおいて、各ピンカードに不揮発メモリを実装し、この不揮発メモリに上記試験パターン供給経路の信号伝搬遅延時間を予め規定した設定値に合わせ込むために上記レジスタに設定する遅延補正データを記憶させた構成としたことを特徴とするピンカード。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G01R 1/06

FI (3件)：

G01R 31/28 M , G01R 1/06 E , G01R 31/28 K

Fターム (16件)：

2G011AA17 , 2G011AC05 , 2G011AC11 , 2G032AA01 , 2G032AB02 , 2G032AC03 , 2G032AD05 , 2G032AD06 , 2G032AE08 , 2G032AE10 , 2G032AE11 , 2G032AF10 , 9A001BB03 , 9A001BB05 , 9A001KK37 , 9A001LL05

引用特許：

出願人引用 (5件)

IC試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-207429 出願人：横河電機株式会社
半導体試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-182756 出願人：株式会社アドバンテスト
半導体集積回路の試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-051046 出願人：株式会社日立製作所

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審査官引用 (1件)

IC試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-310262 出願人：安藤電気株式会社

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