特許
J-GLOBAL ID：200903084529241687
X線CT装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 信和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-251820
公開番号（公開出願番号）：特開2009-082174
出願日： 2007年09月27日
公開日（公表日）： 2009年04月23日
要約：
【課題】X線吸収係数値の差を最適化することにより、被検体の撮影部位の大きさに依存しないデュアルエネルギー断層像を得るX線CT装置を提供する。【解決手段】X線CT装置(100)は、第1エネルギースペクトルを有する第1X線と第1エネルギースペクトルとは異なる第2エネルギースペクトルを有する第2X線とを発生するX線発生部(21)と、被検体の幾何学的特徴量を特定する特徴特定部(38)と、幾何学的特徴量に基づいて第1X線及び第2X線の少なくとも一方の線質を制御可能とする線質制御部(36)と、幾何学的特徴量に基づく線質の第1X線及び第2X線を被検体に照射してそれぞれ得られた第1及び第2エネルギー投影データを収集するX線データ収集部(5)と、第1と第2エネルギー投影データとに基づいてデュアルエネルギー画像を画像再構成するデュアルエネルギー画像再構成部(35)と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1エネルギースペクトルを有する第1X線と前記第1エネルギースペクトルとは異なる第2エネルギースペクトルを有する第2X線とを発生するX線発生部と、
被検体の幾何学的特徴量を特定する特徴特定部と、
前記幾何学的特徴量に基づいて、前記X線発生部より発生される前記第1X線及び前記第2X線の両方に適用され、前記第1X線及び前記第2X線の少なくとも一方の線質を制御可能とする線質制御部と、
前記幾何学的特徴量に基づく線質の前記第1X線及び前記第2X線を前記被検体に照射してそれぞれ得られた第1エネルギー投影データ及び前記第2X線の第2エネルギー投影データを収集するX線データ収集部と、
前記第1エネルギー投影データと前記第2エネルギー投影データとに基づいて、前記被検体のX線管電圧依存情報を表す断層像を画像再構成するデュアルエネルギー画像再構成部と
を備えることを特徴とするX線CT装置
IPC (1件)：
FI (3件)：
A61B6/03 373
, A61B6/03 370G
, A61B6/03 320M
4C093AA22
, 4C093BA17
, 4C093CA01
, 4C093CA04
, 4C093EA07
, 4C093EA11
, 4C093FD09
, 4C093FF18
, 4C093FF25
, 4C093FF28
, 4C093FF33
, 4C093FF34
出願人引用 (1件)
審査官引用 (11件)
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