特許
J-GLOBAL ID：200903084547498725

光断層画像化装置

発明者：
藤田 寛

藤田 寛 について


出願人/特許権者：
フジノン株式会社

フジノン株式会社 について


代理人 (3件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛 ,  本澤 大樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-276122
公開番号（公開出願番号）：特開2007-085931
出願日： 2005年09月22日
公開日（公表日）： 2007年04月05日
要約：
【課題】 OCT計測において光ファイバを用いた場合であっても光ファイバの波長分散による分解能の劣化を防止する。 【解決手段】 光源ユニット2から射出された光Lが光分割手段3により測定光L1と参照光L2とに分割され、光路長調整手段10により参照光L2の光路長が調整される。一方、測定光L1はプローブ20により測定対象Sまで導波される。そして、測定光L1が測定対象Sに照射されたときの測定対象Sからの反射光L3と参照光L2とが合波され、その干渉光L4が干渉光検出手段8において検出される。この干渉光検出手段により検出された干渉光L4から測定対象Sの断層画像が画像取得手段9により取得される。ここで、プローブの光ファイバによる波長分散は分散補償手段により補償される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置において、 光を射出する光源ユニットと、 該光源ユニットから射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、 該光分割手段により分割された前記測定光または前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、 前記光分割手段により分割された測定光を前記測定対象まで導波する光ファイバを有するプローブと、 該プローブから射出した前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの前記反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、 該合波手段により合波された反射光と参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、 該干渉光検出手段により検出された前記干渉光から前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、 前記プローブの前記光ファイバによる波長分散を補償する分散補償手段と を備えたものであることを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (4件)：
G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  G01B 11/24 ,  A61B 1/00
FI (4件)：
G01N21/17 630 ,  A61B10/00 E ,  G01B11/24 D ,  A61B1/00 300P
Fターム (63件)：
2F065AA09 ,  2F065AA20 ,  2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF13 ,  2F065FF52 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL10 ,  2F065LL12 ,  2F065LL42 ,  2F065LL67 ,  2F065MM14 ,  2F065MM15 ,  2F065MM24 ,  2F065MM25 ,  2F065MM28 ,  2F065NN05 ,  2F065NN06 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ44 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  4C061AA00 ,  4C061BB07 ,  4C061CC07 ,  4C061DD00 ,  4C061FF35 ,  4C061FF46 ,  4C061FF47 ,  4C061MM10 ,  4C061NN03 ,  4C061NN05 ,  4C061UU05 ,  4C061WW04
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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