特許
J-GLOBAL ID：200903084683195310

メモリ・セル集合体を操作するための方法、メモリ・コントローラ、メモリ・チップ、およびコンピュータ・プログラム

発明者：
チュン・ホン・ラム

チュン・ホン・ラム について


出願人/特許権者：
インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション

インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション について


代理人 (4件)： 上野 剛史 ,  太佐 種一 ,  市位 嘉宏 ,  坂口 博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-336480
公開番号（公開出願番号）：特開2008-171543
出願日： 2007年12月27日
公開日（公表日）： 2008年07月24日
要約：
【課題】メモリ・セルの特性パラメータに関してレベル数を最大化する費用効率の高い方法を提供する操作手順を提供する。【解決手段】この手順は、特性パラメータ値と関連付けられた最も可能性のある2進値を決定するために、統計分析を利用する。1つの実施形態において、受信ユニットが、目標メモリ・セルを含むメモリ・セル集合体中の各メモリ・セルについての特性パラメータの値を読み取る。生成ユニットが、メモリ・セル集合体についての可能な2進値の各々についての特性パラメータの確率分布関数を生成する。生成ユニットは、目標メモリ・セルの特性パラメータのシフトされた値についての可能な値域を決定するために、確率分布関数を用いる。目標メモリ・セルについての特性パラメータの値は、確率が最も高い2進値に変換される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
メモリ・セル集合体を操作するための方法であって、前記メモリ・セル集合体は、複数のメモリ・セルを含み、前記メモリ・セル集合体中の各メモリ・セルは、特性パラメータの予め設定された値域により区切られた少なくとも1つの可能な2進値を格納しており、前記特性パラメータの前記値域は、経時的にシフトし、前記方法は、 目標メモリ・セルについての前記特性パラメータのシフトされた値を検出することと、 前記メモリ・セル集合体中の各メモリ・セルについての前記特性パラメータのシフトされた値を検出することと、 前記メモリ・セル集合体中の各メモリ・セルについての前記特性パラメータの前記シフトされた値から、前記可能な2進値の各々についての前記特性パラメータの確率分布関数を生成することと、 前記可能な2進値の各々について、前記目標メモリ・セルについての前記特性パラメータの前記シフトされた値がその確率分布関数内にある確率を決定することと、 前記目標メモリ・セルについての前記特性パラメータの前記シフトされた値を、前記確率が最も高い2進値に変換することと、 を含む、方法。
IPC (3件)：
G11C 16/02 ,  G11C 13/00 ,  G11C 11/406
FI (3件)：
G11C17/00 614 ,  G11C13/00 A ,  G11C11/34 363Z
Fターム (9件)：
5B125BA01 ,  5B125CA28 ,  5B125DE16 ,  5B125FA01 ,  5M024AA40 ,  5M024BB39 ,  5M024EE30 ,  5M024PP01 ,  5M024PP10
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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