特許
J-GLOBAL ID：200903085080171324
多次元座標測定機の性能評価方法、多次元座標測定機の校正用ゲージ及び校正用ゲージの治具
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
川島 順 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-106827
公開番号（公開出願番号）：特開2003-302202
出願日： 2002年04月09日
公開日（公表日）： 2003年10月24日
要約：
【要約】【課題】 反転法を利用して被測定物を多次元で測定するためのCMMにおいて、スケール誤差、真直度及び直角度を容易に評価するための方法及び校正用ゲージを提供すること。【解決手段】 校正用ゲージ26は、L字状ブロック体28と複数の球体100よりなる。球体100は、列状球体群110-114と、独立球体120よりなる。機械座標系のX軸方向に列状球体群のそれぞれの球体が整列するように、L字状校正用ゲージ26を載置し、反転法を利用してそれぞれの球体を測定して中心座標等を算出する。本発明では、ブロック体26の余剰な肉を切除して軽量化を図ることができる。これにより、校正用ゲージの反転時に取り扱いが極めて便利である。
請求項（抜粋）：
被測定物に対してX,Y及びZ座標値を相対的に明らかにすることができるように構成された多次元座標測定機の性能評価方法であって、X軸に垂直な表面、Y軸に垂直な表面及びZ軸に垂直な表面を備えたブロック体のいずれかの軸に垂直な表面に設けられて、他の軸に沿って実質的に整列するように設けられた複数の列状球体群と、前記列状球体群が設けられた前記表面の反対側の表面に設けられた1つの独立球体とを備えた校正用ゲージを、前記列状球体群が前記多次元座標測定機の前記他の軸に平行に整列するように前記校正用ゲージを位置決めする第1の手順と、前記列状球体群及び前記独立球体により仮想基準平面を設定するとともに、前記列状球体群により基準軸及び座標原点を設定する第2の手順と、前記列状球体群の各球体を多次元座標測定機により測定する第3の手順と、前記基準軸と平行な軸を中心に前記校正用ゲージを反転させ、前記校正用ゲージを、前記列状球体群が前記多次元座標測定機の機械軸の前記他の軸に平行に整列するように前記校正用ゲージを位置決めする第4の手順と、前記列状球体群及び前記独立球体により反転後の仮想基準平面を設定するとともに、前記列状球体群により反転後の基準軸及び座標原点を設定する第5の手順と、前記列状球体群の各球体を多次元座標測定機により測定する第6の手順とを順次行うことを特徴とする、多次元座標測定機の性能評価方法。
Fターム (17件)：
2F062AA02
, 2F062AA03
, 2F062AA04
, 2F062AA51
, 2F062AA55
, 2F062AA78
, 2F062BC00
, 2F062CC22
, 2F062CC26
, 2F062EE04
, 2F062EE05
, 2F062GG29
, 2F062GG86
, 2F062HH10
, 2F062HH13
, 2F062MM01
, 2F062MM02
