特許
J-GLOBAL ID:200903086459842834
光走査装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-321562
公開番号(公開出願番号):特開2000-131634
出願日: 1998年10月27日
公開日(公表日): 2000年05月12日
要約:
【要約】【課題】 回路基板の部品点数を低減し、かつレーザビームの書き出し位置の誤差を低減することが出来る光走査装置を提供する。【解決手段】 受光素子8に入る光束を規制する光束規制部材としてのエッジ12を、半導体レーザ1を保持するホルダ11と一体的に設けている。このようにエッジ12を設けることで、受光素子8が光束を検知する位置が主走査方向にずれないので、書き出し開始位置のずれが無くなり、高精度な光走査装置を提供できる。
請求項(抜粋):
光源と、光源からの光束を等角速度的に偏向する偏向器と、偏向された複数の光束を被走査面に向けて集光させ、被走査面を略等速度的に走査する走査光学系と、光源と同一基板に取り付けられ、偏向器からの光束を受光する受光素子と、受光素子に入る光束を規制する光束規制部材と、を備えたことを特徴とする光走査装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G02B 26/10 E
, G02B 26/10 A
, B41J 3/00 D
Fターム (16件):
2C362AA43
, 2C362AA45
, 2C362AA47
, 2C362BB30
, 2C362DA03
, 2C362DA09
, 2H045AA01
, 2H045AA33
, 2H045AA53
, 2H045AA54
, 2H045BA22
, 2H045BA42
, 2H045CA82
, 2H045CA88
, 2H045CA98
, 2H045DA04
引用特許:
審査官引用 (7件)
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光走査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-043249
出願人:株式会社リコー
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走査光学装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-096963
出願人:キヤノン株式会社
-
光ビ-ム同期検出装置及び画像形成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-298046
出願人:キヤノン株式会社
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