特許
J-GLOBAL ID:200903086918906212
走査型光学顕微鏡
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 高柴 忠夫
, 増井 裕士
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-191465
公開番号(公開出願番号):特開2007-316662
出願日: 2007年07月23日
公開日(公表日): 2007年12月06日
要約:
【課題】光軸外における性能劣化を防止する。【解決手段】光源11と、該光源11から発せられた照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子22と、該波面変換素子22から発せられた波面変換後の光束を直交する2方向に走査する光走査手段3と、光走査手段3によって偏向した光束を集光して光スポットを形成する対物レンズ4と、試料から発せられた信号光を検出する検出器53とを備え、波面変換素子によって波面変換を行なうことで、光スポットを対物レンズの光軸方向に沿って移動させる。光スポットの所定の位置において、波面変換を複数回行い波面変換に併せて試料の画像を得る。【選択図】図1
請求項(抜粋):
光源と、該光源から発せられた照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子と、該波面変換素子から発せられた波面変換後の光束を走査する光走査手段と、光走査手段によって偏向した光束を集光して光スポットを形成する対物レンズと、試料から発せられた信号光を検出する検出器とを備え、前記波面変換素子によって前記波面変換を行なうことで、前記光スポットを前記対物レンズの光軸方向に沿って移動させる走査型光学顕微鏡において、
前記光スポットの所定の位置において、前記波面変換を複数回行い、
前記波面変換に併せて前記試料の画像を得ることを特徴とする走査型光学顕微鏡。
IPC (3件):
G02B 21/00
, G02B 17/08
, G02B 26/08
FI (3件):
G02B21/00
, G02B17/08 A
, G02B26/08 E
Fターム (25件):
2H052AA07
, 2H052AB29
, 2H052AC27
, 2H052AC34
, 2H052AF06
, 2H052AF14
, 2H052AF25
, 2H087KA09
, 2H087LA01
, 2H087PA15
, 2H087PB20
, 2H087TA08
, 2H141MA12
, 2H141MA27
, 2H141MB27
, 2H141MD40
, 2H141ME04
, 2H141ME23
, 2H141ME24
, 2H141ME25
, 2H141MF11
, 2H141MG06
, 2H141MG10
, 2H141MZ13
, 2H141MZ14
引用特許:
出願人引用 (7件)
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顕微鏡におけるアダプティブ光学装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-214675
出願人:カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
-
走査型光学顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-268694
出願人:オリンパス株式会社
-
試料照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-070538
出願人:ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-386020
出願人:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型光学顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-394934
出願人:オリンパス光学工業株式会社
-
光学素子及びその型の形状測定方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-299727
出願人:オリンパス光学工業株式会社
-
光学装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-009824
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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審査官引用 (6件)
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走査型光学顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-268694
出願人:オリンパス株式会社
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試料照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-070538
出願人:ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー
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走査型顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-386020
出願人:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
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走査型光学顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-394934
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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光学素子及びその型の形状測定方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-299727
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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光学装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-009824
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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