特許
J-GLOBAL ID:200903086940665911

非破壊検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-080694
公開番号(公開出願番号):特開2004-286658
出願日: 2003年03月24日
公開日(公表日): 2004年10月14日
要約:
【課題】検査員が冷却剤による窒息や低温やけどを負う危険がなく、安全性、習熟の問題を解決することができ、しかも高抵抗率材料に対しても深部欠陥が検出可能な非破壊検査装置を提供する。【解決手段】SQUID素子を用いた非破壊検査装置において、試料に外部から交流磁界を印加するコイルと、該コイルで発生する磁束密度を増倍して試料内部に印加する磁束密度増倍手段と、SQUID素子を冷却するために電気的に作動する冷凍機とを具備することを特徴とする非破壊検査装置。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
SQUID素子を用いた非破壊検査装置において、試料に外部から交流磁界を印加するコイルと、該コイルで発生する磁束密度を増倍して試料内部に印加する磁束密度増倍手段と、SQUID素子を冷却するために電気的に作動する冷凍機とを具備することを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (2件):
G01N27/90 ,  F25B9/00
FI (2件):
G01N27/90 ,  F25B9/00 311
Fターム (12件):
2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BA00 ,  2G053BA02 ,  2G053BA12 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA10 ,  2G053DA10
引用特許:
審査官引用 (7件)
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引用文献:
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