特許
J-GLOBAL ID:200903087015064890

距離計

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 秀和 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-037702
公開番号(公開出願番号):特開2000-234908
出願日: 1999年02月16日
公開日(公表日): 2000年08月29日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、計測異常値が大きい場合等でも、計測異常値を確実に削除・修正して、誤差を最小にすることを目的とする。【解決手段】 計測値の分布を調べ、所定頻度以下の計測値を被測定物1の表面状態、外乱、計測ミス等による計測異常値として削除・修正するアルゴリズム機能を有することを特徴とする。
請求項(抜粋):
被測定物に光ビームを投光し、その反射光ビームにより前記被測定物までの距離を測定する機能を有する距離計において、計測値の分布を調べ、所定頻度以下の計測値を前記被測定物の表面状態、外乱、計測ミス等による計測異常値として削除・修正するアルゴリズム機能を有することを特徴とする距離計。
IPC (2件):
G01B 11/00 ,  G01C 3/06
FI (2件):
G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 A
Fターム (27件):
2F065AA06 ,  2F065AA22 ,  2F065AA30 ,  2F065AA45 ,  2F065DD11 ,  2F065FF09 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065HH03 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ07 ,  2F065JJ25 ,  2F065LL19 ,  2F065MM03 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F112AA05 ,  2F112BA01 ,  2F112CA12 ,  2F112DA25 ,  2F112FA41
引用特許:
審査官引用 (11件)
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