断面形状計測装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：関正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-396195
公開番号（公開出願番号）：特開2003-194526
出願日： 2001年12月27日
公開日（公表日）： 2003年07月09日
要約：

【要約】【課題】自動倣い溶接装置など溶接部に接近して設けられるビームスキャン型レーザセンサにおいて、測定対象部位の条件変化によりセンサに入射する反射光が変動する場合にも、また温度変化が激しい場合にも、溶接形状を高精度で計測できる装置を提供することである。【解決手段】レーザ放射装置と1次元光センサと、レーザ放射装置からのレーザ光を測定対象に導き反射するレーザ光を1次元光センサに導くスキャニング機構を有するセンサヘッドを備え、さらに、入射光量調節器を備えて、スキャニング機構によるスキャニングに連動してレーザ光照射方向が以前に同じ照射方向であったときに1次元光センサが検出した受光量に基づいて受光量が所定の目標値に近づく方向に入射光量を調整することにより、測定精度を向上させる。

請求項（抜粋）：

レーザ放射装置と1次元光センサと、該レーザ放射装置からのレーザ光を対象に導いて1方向に走査し該対象から反射するレーザ光を前記1次元光センサに導くスキャニング機構を備えるものであって、さらに、入射光量調節器を備えて、該入射光量調節器が前記スキャニング機構によるスキャニング中のレーザ光照射方向に連動して以前に同じ照射方向であったときに前記1次元光センサが検出した受光量に基づいて受光量が所定の目標値に近づくように入射光量を調整することを特徴とする断面形状計測装置。

IPC (2件)：

G01B 11/24 , B23K 26/00 310

FI (2件)：

B23K 26/00 310 A , G01B 11/24 A

Fターム (32件)：

2F065AA52 , 2F065BB05 , 2F065CC15 , 2F065FF01 , 2F065FF02 , 2F065FF09 , 2F065FF66 , 2F065FF69 , 2F065GG04 , 2F065GG06 , 2F065GG22 , 2F065HH04 , 2F065JJ02 , 2F065JJ25 , 2F065LL13 , 2F065LL22 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065NN02 , 2F065NN06 , 2F065NN12 , 2F065NN17 , 2F065NN19 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ27 , 2F065QQ29 , 2F065QQ42 , 4E068BA00 , 4E068CB09 , 4E068CC02 , 4E068CE02

引用特許：

審査官引用 (6件)

走査型レーザ変位計
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-009622 出願人：日本電気株式会社
物体の形状測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-087424 出願人：新技術事業団
三次元形状測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-138856 出願人：株式会社クボテック

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