特許
J-GLOBAL ID:200903088684249258

X線CT装置及びCT値計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 外川 英明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-310044
公開番号(公開出願番号):特開2004-113779
出願日: 2003年09月02日
公開日(公表日): 2004年04月15日
要約:
【課題】被検体に対する高X線スキャン時間を短縮し、被曝量を低減する。【解決手段】 造影剤を注入した被検体の周囲にX線管及びX線検出器を配置して被検体のX線投影データを収集し、収集したX線投影データを再構成処理して予備撮影及び本撮影のための画像データを生成する。一方、CT値演算回路は、前記本撮影に先行して行なわれる予備撮影において、連続的に得られる複数枚の画像データの所定位置に設定した関心領域(ROI)におけるCT値を順次計測する。そして、計測したCT値を経時的な変化曲線(TDC)として表示することによって前記ROIにおける造影剤流入及び流出の状態を観察し、この流入及び流出のタイミングに基づいて本撮影における最適な撮影開始及び撮影終了のタイミングを決定する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被検体に対してX線を照射するX線照射手段と、 前記被検体を透過したX線を検出するX線検出手段と、 前記X線照射手段と前記X線検出手段を用いて収集された前記被検体の所望位置における投影データに基づいて画像データを生成する画像データ生成手段と、 前記画像データ生成手段によって得られた造影剤注入前の第1の画像データに対して関心領域を設定する関心領域設定手段と、 前記画像データ生成手段による造影剤注入後の連続した複数枚の第2の画像データの生成と並行して、前記関心領域設定手段によって設定された前記関心領域の位置情報に基づいて前記第2の画像データに設定された関心領域におけるCT値を計測するCT値計測手段と、 このCT値計測手段によって計測されたCT値の時間的変化を表示するCT値表示手段を 備えることを特徴とするX線CT装置。
IPC (1件):
A61B6/03
FI (3件):
A61B6/03 375 ,  A61B6/03 330B ,  A61B6/03 331
Fターム (11件):
4C093AA22 ,  4C093AA24 ,  4C093BA03 ,  4C093BA09 ,  4C093CA18 ,  4C093CA34 ,  4C093CA37 ,  4C093DA02 ,  4C093FA13 ,  4C093FA18 ,  4C093FA43
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • X線CT装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-090221   出願人:株式会社東芝
  • X線CT装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-267628   出願人:株式会社東芝
審査官引用 (9件)
  • X線CT装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-090221   出願人:株式会社東芝
  • X線コンピュータ断層撮影装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-290190   出願人:株式会社東芝
  • 特開昭62-216199
全件表示

前のページに戻る