特許
J-GLOBAL ID：200903088732712151

容器密封面領域検査方法及び装置

発明者：
ジョン ダブリュー ジュヴィナル

ジョン ダブリュー ジュヴィナル について

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ジェームズ エイ リングリーン

ジェームズ エイ リングリーン について

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ウィリアム ティー シェパード

ウィリアム ティー シェパード について


出願人/特許権者：
オウェンス ブロックウェイ グラス コンテナーインコーポレイテッド

オウェンス ブロックウェイ グラス コンテナーインコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 中村 稔 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-172007
公開番号（公開出願番号）：特開平11-108643
出願日： 1998年05月15日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 容器密封面積での位置の変化や揺れに対する改良された免疫によって、容器密封面積の寸法特性を測定または決定するための装置を提供する。【解決手段】 容器を光源に対して移動させながら平行線形の光ビームを容器密封面積に向けるように位置決めされた構造形光源44を含む容器仕上げ部の密封面積36の検査装置である。容器密封面積で線形光ビーム46は、容器の軸線25に直交し、密封面積を横切って弦状に延びる長い寸法と容器軸線に接する狭い幅寸法を有する。光センサ52は、密封面積から反射された光ビーム54を受けるように配置され、かつ、光源44やセンサ52に対する密封面積の高さとレベルによって異なる出力の電気信号を提供する。センサ52は、密封面積高さの情報表示のために関連電子装置60に接続される。
請求項（抜粋）：
中心軸線と軸線方向に面する容器密封面領域(36)によって囲まれ、容器キャップで密封係合する開口とを有する容器(22)の仕上げ部(34)を検査するための装置であって、密封面の線形ビームが容器の軸線に直交する長い寸法と、容器の軸線と接線をなす狭い幅寸法とを有するように、平行線形光ビーム(46)を容器密封面領域に差し向けるように位置決めされた構造形光源(44)と、容器の密封面領域から反射した前記線形光ビームの一部を受光するように配置された光センサ手段(52)とを有し、前記光源及び前記光センサ手段は容器密封面領域から前記光センサ手段に反射した光が、前記光源及び前記センサ手段に対して密封面の高さによって変わる前記センサ手段の位置に入射するように容器密封面領域上に配置され、前記線形光ビームの長い寸法が容器密封面領域の揺れや容器の密封面領域と前記光源及び前記光センサ手段との不整列に順応し、前記光センサ手段で反射された光の入射位置の関数として容器の密封面の高さの変化を検出するための手段(60)を有する、容器(22)の仕上げ部(34)の検査用装置。
IPC (2件)：
G01B 11/30 ,  G01N 21/90
FI (2件)：
G01B 11/30 Z ,  G01N 21/90 A
引用特許：
審査官引用 (9件)
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