特許
J-GLOBAL ID:200903089602618893
磁性体微粉の検出装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
越場 隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-181171
公開番号(公開出願番号):特開平10-010091
出願日: 1996年06月21日
公開日(公表日): 1998年01月16日
要約:
【要約】【課題】連続して走行する長尺の被検査物1に含まれる磁性体の微細な異物を、被検査物1を破壊することなく連続して検出する。【解決手段】被検査物1を特定の方向に磁化するための磁界発生手段2と、磁界発生手段2により磁化された被検査物1を含む特定の領域で磁界の変動を検出する磁気センサ3とを具備する。ここで、磁界発生手段2は、被検査物1の走行方向と直角な磁界を発生して被検査物1を磁化する。磁気センサ3は、磁界発生手段2により発生された磁界と同じ方向の磁界を高感度に検出できるように配置されている。
請求項(抜粋):
連続してその長手方向に走行する長尺の被検査物に対して、該被検査物を磁化する磁界発生手段と、該磁界発生手段により磁化された被検査物のある区間を含む領域の磁界の変動をSQUIDで検出する磁気センサとを備え、該磁界の変動をから、該被検査物に含まれる磁性体微粉を検出する検出装置において、該磁界発生手段が該被検査物の走行方向に直角な磁界により該被検査物を磁化するように配置されており、且つ、該磁気センサの最も検出感度の高い方向が該磁界発生手段が発生した磁界と平行になるように該磁気センサが配置されていることを特徴とする磁性体微粉の検出装置。
IPC (4件):
G01N 27/72
, G01R 33/02
, G01R 33/035 ZAA
, G01V 3/10
FI (4件):
G01N 27/72
, G01R 33/02 Q
, G01R 33/035 ZAA
, G01V 3/10 G
引用特許:
審査官引用 (8件)
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非破壊検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-182883
出願人:住友電気工業株式会社
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特開平4-120456
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超電導磁気センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-279210
出願人:シャープ株式会社
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非破壊検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-319120
出願人:住友電気工業株式会社
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金属検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-018297
出願人:日本セメント株式会社
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特開平4-218764
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非破壊検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-182884
出願人:住友電気工業株式会社
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磁気顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-279092
出願人:住友電気工業株式会社
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