特許
J-GLOBAL ID:200903090218634766
穀粒状態評価方法、穀粒状態評価試薬及び穀粒状態評価装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
釜田 淳爾 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-375410
公開番号(公開出願番号):特開2003-172704
出願日: 2001年12月10日
公開日(公表日): 2003年06月20日
要約:
【要約】【課題】 高感度で簡単に穀粒の状態を評価できる方法を提供すること。【解決手段】 過酸化物と発光試薬の共存下で穀粒のペルオキシダーゼ由来の発光を測定し、その発光を指標として該穀粒の状態を評価することを特徴とする穀粒状態評価方法。
請求項(抜粋):
過酸化物と発光試薬の共存下で穀粒のペルオキシダーゼ由来の発光を測定し、その発光を指標として該穀粒の状態を評価することを特徴とする穀粒状態評価方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 21/78 C
, G01N 33/10
Fターム (9件):
2G054AA04
, 2G054AB10
, 2G054CE01
, 2G054CE08
, 2G054EA01
, 2G054FA23
, 2G054FA44
, 2G054GB10
, 2G054JA04
引用特許: