表示装置基板および表示装置製造方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-027125
公開番号（公開出願番号）：特開2003-228299
出願日： 2002年02月04日
公開日（公表日）： 2003年08月15日
要約：

【要約】【課題】自己発光素子の形成前に不良基板を発見する検査を可能にする。【解決手段】表示装置基板は絶縁基板1と、この絶縁基板1上に形成される第1および第2電源端子Vdd,Vtestと、絶縁基板1上で略マトリクス状に配置される複数の有機EL素子電極PXと、絶縁基板1上で複数の有機EL素子電極PXおよび第1電源端子Vdd,Vtest間にそれぞれ接続される複数の電流駆動用薄膜トランジスタ5とを備える。特に、この表示装置基板はこれら電流駆動用薄膜トランジスタ5により制御される検査用電荷を保持するように絶縁基板1上で複数の有機EL素子電極PXにそれぞれ容量結合して第2電源端子Vtestに接続される複数の検査電極PTをさらに備える。

請求項（抜粋）：

絶縁基板と、前記絶縁基板上に形成される第1および第2電源端子と、前記絶縁基板上で略マトリクス状に配置される複数の自己発光素子電極と、前記絶縁基板上で前記複数の自己発光素子電極および前記第1電源端子間にそれぞれ接続される複数の駆動素子と、前記複数の駆動素子により制御される検査用電荷を保持するように前記絶縁基板上で前記複数の自己発光素子電極にそれぞれ容量結合して前記第2電源端子に接続される複数の検査電極とを備えることを特徴とする表示装置基板。

IPC (10件)：

G09F 9/30 330 , G09F 9/30 338 , G09F 9/30 365 , G01R 31/00 , G09F 9/00 352 , G09G 3/20 624 , G09G 3/20 670 , G09G 3/20 , G09G 3/30 , H05B 33/14

FI (10件)：

G09F 9/30 330 Z , G09F 9/30 338 , G09F 9/30 365 Z , G01R 31/00 , G09F 9/00 352 , G09G 3/20 624 B , G09G 3/20 670 A , G09G 3/20 670 Q , G09G 3/30 Z , H05B 33/14 A

Fターム (28件)：

2G036AA25 , 2G036AA27 , 2G036BA32 , 2G036BB12 , 2G036CA10 , 3K007AB18 , 3K007DB03 , 3K007GA00 , 5C080AA06 , 5C080BB05 , 5C080DD15 , 5C080DD28 , 5C080FF11 , 5C080JJ02 , 5C080JJ03 , 5C080JJ06 , 5C094AA42 , 5C094BA29 , 5C094CA19 , 5C094DA11 , 5C094EA03 , 5C094HA08 , 5G435AA17 , 5G435BB05 , 5G435CC09 , 5G435KK05 , 5G435LL07 , 5G435LL08

引用特許：

審査官引用 (11件)

EL表示装置およびその検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-140333 出願人：株式会社半導体エネルギー研究所
電気光学装置用基板の検査方法、電気光学装置用基板及び電気光学装置並びに電子機器
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-112524 出願人：セイコーエプソン株式会社
特開平2-072392

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