特許
J-GLOBAL ID：200903091014885804

分布計測データによる機器状態の監視方法

発明者：
荒 川 秋 雄

荒 川 秋 雄 について

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鶴 巻 秀 幸

鶴 巻 秀 幸 について

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服 部 芳 明

服 部 芳 明 について

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羽 田 里代子

羽 田 里代子 について

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田 井 一 郎

田 井 一 郎 について

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兼 本 茂

兼 本 茂 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-206945
公開番号（公開出願番号）：特開平8-068673
出願日： 1994年08月31日
公開日（公表日）： 1996年03月12日
要約：
【要約】【目的】 対象機器から取り出した2次元分布計測データにより機器状態の監視・診断を簡単かつ的確に行える機器状態の監視方法を提供すること。【構成】 対象機器を含む機器の状態に関する2次元分布計測データを時々刻々取り込み、前記2次元分布計測データと該機器の3次元形状モデルによる表示結果とを位置合わせし、かつ対応付けて重ね合わせ表示し、この表示内容から点検すべき機器部分を指定し、指定された機器部分に対応する前記3次元形状モデル上に当該機器の計測データをマッピングし、前記計測データの変化を検出して機器の異常の有無を判定する分布計測データによる機器状態の監視方法。
請求項（抜粋）：
対象機器を含む機器の状態に関する2次元分布計測データを取り込み、前記2次元分布計測データと該機器の3次元形状モデルによる表示結果とを位置合わせし、かつ対応付けて重ね合わせ表示し、この表示内容から点検すべき機器部分を指定し、指定された機器部分に対応する前記3次元形状モデル上に当該機器の計測データをマッピングし、前記計測データの変化を検出して機器の異常の有無を判定する分布計測データによる機器状態の監視方法。
IPC (3件)：
G01D 21/00 ,  G01H 17/00 ,  G01J 5/00
引用特許：
出願人引用 (18件)
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審査官引用 (29件)
  • 監視システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-238277   出願人：株式会社日立製作所
  • 特開平4-308895
  • 高炉プロセス立体監視装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-177082   出願人：新日本製鐵株式会社
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