特許

J-GLOBAL ID：200903091014885804

分布計測データによる機器状態の監視方法

発明者： 荒 川 秋 雄 ,  鶴 巻 秀 幸 ,  服 部 芳 明 ,  羽 田 里代子 ,  田 井 一 郎 ,  兼 本 茂
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-206945
公開番号（公開出願番号）：特開平8-068673
出願日： 1994年08月31日
公開日（公表日）： 1996年03月12日
要約：

【要約】【目的】 対象機器から取り出した2次元分布計測データにより機器状態の監視・診断を簡単かつ的確に行える機器状態の監視方法を提供すること。【構成】 対象機器を含む機器の状態に関する2次元分布計測データを時々刻々取り込み、前記2次元分布計測データと該機器の3次元形状モデルによる表示結果とを位置合わせし、かつ対応付けて重ね合わせ表示し、この表示内容から点検すべき機器部分を指定し、指定された機器部分に対応する前記3次元形状モデル上に当該機器の計測データをマッピングし、前記計測データの変化を検出して機器の異常の有無を判定する分布計測データによる機器状態の監視方法。

請求項（抜粋）：

対象機器を含む機器の状態に関する2次元分布計測データを取り込み、前記2次元分布計測データと該機器の3次元形状モデルによる表示結果とを位置合わせし、かつ対応付けて重ね合わせ表示し、この表示内容から点検すべき機器部分を指定し、指定された機器部分に対応する前記3次元形状モデル上に当該機器の計測データをマッピングし、前記計測データの変化を検出して機器の異常の有無を判定する分布計測データによる機器状態の監視方法。

IPC (3件)：

G01D 21/00 ,  G01H 17/00 ,  G01J 5/00

引用特許：

審査官引用 (18件)

• 監視システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-238277   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平4-308895
  
• 高炉プロセス立体監視装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-177082   出願人：新日本製鐵株式会社
• 特開平3-278183
  
• 特開平4-096184
  
• 特開平2-293685
  
• プラント監視制御装置及びプラント監視方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-137923   出願人：株式会社日立製作所, 日立エンジニアリング株式会社
• 特開平4-169803
  
• 三次元位置計測のための位置対応テーブル作成方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-018737   出願人：富士通株式会社
• 画像のシェーディング補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-361320   出願人：川崎製鉄株式会社
• 特開平4-315930
  
• 特開平4-198812
  
• プラント異常点検装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-102495   出願人：三菱電機株式会社
• 特開平1-273197
  
• 特開平3-251721
  
• プロセス情報表示システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-212357   出願人：株式会社日立製作所
• 特開昭64-035697
  
• 特公昭61-010262