特許
J-GLOBAL ID:200903091572125344

バリア研磨液

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 津国 肇 ,  篠田 文雄 ,  束田 幸四郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-279441
公開番号(公開出願番号):特開2005-136388
出願日: 2004年09月27日
公開日(公表日): 2005年05月26日
要約:
【課題】金属配線のディッシング及び絶縁体のエロージョンを減らしながらも、バリアを高速で除去するバリア除去組成物を提供する。【解決手段】研磨液は、半導体基材のタンタル含有バリア材料を研磨するのに有用である。研磨液は、イミン化合物及びヒドラジン化合物を含む、少なくとも2個の窒素原子を有する窒素含有化合物を含む。窒素含有化合物は電子求引性置換基を有さず、研磨液は、半導体基材の表面からタンタル含有バリア材料を砥粒なしで除去することができる。【選択図】なし
請求項(抜粋):
半導体基材のタンタル含有バリア材料を研磨するのに有用な研磨液であって、 イミン化合物
IPC (3件):
H01L21/304 ,  B24B37/00 ,  C09K3/14
FI (4件):
H01L21/304 622C ,  B24B37/00 H ,  C09K3/14 550C ,  C09K3/14 550Z
Fターム (7件):
3C058AA07 ,  3C058AC04 ,  3C058CB01 ,  3C058CB03 ,  3C058DA02 ,  3C058DA12 ,  3C058DA17
引用特許:
審査官引用 (5件)
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