特許
J-GLOBAL ID：200903092236075416

光学特性測定装置

発明者：
広原 陽子

広原 陽子 について

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三橋 俊文

三橋 俊文 について

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前田 直之

前田 直之 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 橋爪 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-119086
公開番号（公開出願番号）：特開2002-209854
出願日： 2001年04月18日
公開日（公表日）： 2002年07月30日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 測定データ、測定結果に対応する画像データ及び/又は数値データをまとめて、又は、選択的に表示する。【解決手段】 光学特性測定装置100は、例えば、対象物である被測定眼60の光学特性を測定・表示する装置である。第1照明光学系10は、被測定眼60に所定パターンの光束を照射する第1光源部11を含む。第1受光光学系20は、被測定眼60からの反射光を受光する第1受光部23を含む。送受光光学系30は、アライメント調整を主に行うものであって、被測定眼60からの反射光を受光する第2受光部35を含む。共通光学系40は、第1照明光学系10から発せられる光束の光軸上に配され、第1照明光学系10、第1受光光学系20及び送受光光学系30に共通に含まれる。演算部は、第1受光部23及び第2受光部35からの受光信号に基づき演算を行う。表示部は、測定データと測定結果とをグラフィック表示する。
請求項（抜粋）：
被測定眼に所定パターンの光束を照射する光源部を含む照射光学系と、被測定眼からの反射光を受光する受光部を含む受光光学系と、上記受光部からの測定データを示す受光信号に基づき、測定結果をグラフィック表示となるように演算する演算部と、上記受光信号に基づいた測定データと、上記演算部で求められた測定結果とを、グラフィック表示する表示部とを備えた光学特性測定装置。
FI (4件)：
A61B 3/10 Z ,  A61B 3/10 H ,  A61B 3/10 M ,  A61B 3/10 R
引用特許：
審査官引用 (11件)
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