特許
J-GLOBAL ID:200903092834598946

電磁波解析装置および電磁波解析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森 幸一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-089407
公開番号(公開出願番号):特開2009-245057
出願日: 2008年03月31日
公開日(公表日): 2009年10月22日
要約:
【課題】電磁波の解析を高速に行うことができ、実装も容易で、フレキシビリティーが高く、実用性に優れ、計算の大規模化も容易な電磁波解析装置を提供する。【解決手段】解析対象となる3次元空間をグリッドに離散化し、FDTD法またはFIT法により電磁波を解析する電磁波解析装置を提供する。この電磁波解析装置は、解析対象となる3次元空間の電磁場の値を格納する、電磁波の各成分ごとにそれぞれ4つのメモリM1〜M4を有するメモリ部と、解析対象となる3次元空間の1グリッドの電場の3成分または磁場の3成分の演算をデータフロー形式で1クロックで実行する演算部とを有する。メモリ部から1グリッドごとの計算に必要なデータを演算部に一度にロードするように構成する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
解析対象となる3次元空間をグリッドに離散化し、FDTD法またはFIT法により電磁波を解析する電磁波解析装置であって、 上記解析対象となる3次元空間の電磁場の値を格納する、電磁場の各成分ごとにそれぞれ4つのメモリを有するメモリ部と、 上記解析対象となる3次元空間の1グリッドの電場の3成分または磁場の3成分の演算をデータフロー形式で1クロックで実行する演算部とを有し、 上記メモリ部から1グリッドごとの計算に必要なデータを上記演算部に一度にロードするように構成されていることを特徴とする電磁波解析装置。
IPC (2件):
G06F 17/50 ,  G01R 29/08
FI (2件):
G06F17/50 662G ,  G01R29/08 Z
Fターム (3件):
5B046AA08 ,  5B046BA04 ,  5B046JA10
引用特許:
出願人引用 (5件)
  • 米国特許出願公開第2003/0097544号公報
  • 米国特許出願公開第2005/0120178号公報
  • 米国特許出願公開第2005/0273479号公報
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示
引用文献:
前のページに戻る