特許
J-GLOBAL ID:200903093151124988

人工建造物の欠陥検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 青山 葆 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-105270
公開番号(公開出願番号):特開2003-057188
出願日: 2002年04月08日
公開日(公表日): 2003年02月26日
要約:
【要約】【課題】 現存の人工建造物に欠陥があるかどうかを判断する方法を提供する。【解決手段】 本発明による欠陥検出方法は、現存する人工建造物の少なくとも1つの画像を撮像し、その人工建造物における1以上の欠陥の存在を検出する方法である。その方法は、現存する人工建造物の表面または内部に、検出可能な材料を、その一部が人工建造物の1以上の欠陥に存在するように提供する提供ステップと、画像センサによって、人工建造物の少なくとも1つのデジタル画像を撮像する撮像ステップと、撮像された1以上のデジタル画像を処理して、人工建造物の視覚画像を提供し、人工建造物における1以上の欠陥の存在を判断する処理ステップとから成る。また、上述の画像センサは、人工建造物の少なくとも1つの画像を撮像し、1以上の欠陥における検出可能な材料の存在の有無により、1以上の欠陥を識別する。
請求項(抜粋):
現存する人工建造物の少なくとも1つの画像を撮像し、その人工建造物における1以上の欠陥の存在を検出する方法であって、(a)現存する人工建造物の表面または内部に、検出可能な材料を、その一部が前記人工建造物の1以上の欠陥に存在するように提供する提供ステップと、(b)画像センサによって、前記人工建造物の少なくとも1つのデジタル画像を撮像する撮像ステップと、(c)撮像された前記1以上のデジタル画像を処理して、前記人工建造物の視覚画像を提供し、前記人工建造物における1以上の欠陥の存在を判断する処理ステップとから成り、前記画像センサは、前記人工建造物の少なくとも1つの画像を撮像し、1以上の欠陥における前記検出可能な材料の存在の有無により、前記1以上の欠陥を識別する欠陥検出方法。
IPC (5件):
G01N 21/88 ,  E04G 23/00 ESW ,  G01B 11/30 ,  G06T 1/00 285 ,  H04N 7/18
FI (5件):
G01N 21/88 K ,  E04G 23/00 ESW ,  G01B 11/30 A ,  G06T 1/00 285 ,  H04N 7/18 B
Fターム (41件):
2E176AA01 ,  2E176AA07 ,  2E176AA09 ,  2E176BB38 ,  2F065AA49 ,  2F065CC14 ,  2F065CC40 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL21 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065TT07 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EC01 ,  5B057AA14 ,  5B057BA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC25 ,  5B057DC33 ,  5C054AA01 ,  5C054AA05 ,  5C054EA07 ,  5C054FC01 ,  5C054GA00 ,  5C054GB02 ,  5C054GB12 ,  5C054GB13 ,  5C054GB15 ,  5C054HA05 ,  5C054HA37
引用特許:
審査官引用 (6件)
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