特許
J-GLOBAL ID：200903093421986790

校正用被写体

発明者：
大谷 仁志

大谷 仁志 について

, 
高地 伸夫

高地 伸夫 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 宮川 貞二 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-236120
公開番号（公開出願番号）：特開2003-042726
出願日： 2001年08月03日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：
【要約】【課題】 表面形状測定装置にて遺跡埋蔵物や人体等の測定対象物の表面形状を測定する場合に、撮影する機器の位置決めを厳密に行わなくても、正確に表面形状を測定できるようにする校正用被写体を提供すること。【解決手段】 ステレオ撮影される測定対象物の表面形状を測定するための基準寸法を提供する校正用被写体(11、11B)であって、三次元測定の原点位置に相当する原点基準点ターゲット110と、複数の撮影方向から撮影された各ステレオ画像に少なくとも6点含まれるように配置された基準ターゲット(113、113B)とを備えている。基準ターゲットに対しては、原点基準点ターゲット110を基準とする各基準ターゲットの位置が予め定められている。
請求項（抜粋）：
ステレオ撮影される測定対象物の表面形状を測定するための基準寸法を提供する校正用被写体であって;三次元測定の原点位置に相当する原点基準点ターゲットと;複数の撮影方向から撮影された各ステレオ画像に少なくとも6点含まれるように配置された基準ターゲットであって、前記原点基準点ターゲットを基準とする各基準ターゲットの位置が予め定められている基準ターゲットと;を備える校正用被写体。
Fターム (19件)：
2F065AA04 ,  2F065AA31 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC00 ,  2F065CC11 ,  2F065CC14 ,  2F065CC16 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM04 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42
引用特許：
出願人引用 (11件)
全件表示
審査官引用 (12件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM