表面形状測定装置及びその方法、表面形状測定プログラム、並びに表面状態図化装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：宮川貞二 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-234644
公開番号（公開出願番号）：特開2003-042732
出願日： 2001年08月02日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：

【要約】【課題】遺跡埋蔵物や人体等の測定対象物の表面形状や模様を迅速に測定できる表面形状測定装置を提供すること。【解決手段】測定対象物1と、測定対象物1の近傍に配置される校正用被写体11であって、あらかじめ立体的な相対位置関係が定められている基準点を有する校正用被写体11とを、複数の方向からステレオ撮影するステレオ撮影部3と、ステレオ撮影部3にてステレオ撮影された撮影画像データから校正用被写体11の基準点の像を抽出して、前記基準点の位置からステレオ撮影する方向毎の撮影パラメータを求める撮影パラメータ演算手段5と、撮影パラメータと、基準点の像が抽出された撮影画像データにおける測定対象物1の像位置から、測定対象物1の表面形状を求める表面形状測定手段6とを備えている。

請求項（抜粋）：

測定対象物と、当該測定対象物の近傍に配置される校正用被写体であって、あらかじめ立体的な相対位置関係が定められている基準点を有する前記校正用被写体とを、複数の方向からステレオ撮影するステレオ撮影部と;前記ステレオ撮影部にてステレオ撮影された撮影画像データから前記基準点の像を抽出して、前記基準点の位置からステレオ撮影する方向毎の撮影パラメータを求める手段と;前記撮影パラメータと、前記基準点の像が抽出された撮影画像データにおける前記測定対象物の像位置から、前記測定対象物の表面形状を求める手段とを備える;表面形状測定装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 , G01B 11/245 , G06T 1/00 315 , G06T 7/00 300 , G06T 7/60 150

FI (5件)：

G06T 1/00 315 , G06T 7/00 300 E , G06T 7/60 150 B , G01B 11/24 K , G01B 11/24 N

Fターム (39件)：

2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065CC11 , 2F065CC16 , 2F065FF04 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ26 , 2F065QQ31 , 2F065RR03 , 5B057AA01 , 5B057BA02 , 5B057BA13 , 5B057BA19 , 5B057CA08 , 5B057CA13 , 5B057CA16 , 5B057CB08 , 5B057CB13 , 5B057CB16 , 5B057CD01 , 5B057DA07 , 5B057DB03 , 5B057DB09 , 5B057DC05 , 5B057DC06 , 5B057DC09 , 5B057DC32 , 5B057DC34 , 5L096AA09 , 5L096BA03 , 5L096CA05 , 5L096FA09 , 5L096FA60 , 5L096FA69 , 5L096GA32 , 5L096HA07 , 5L096JA03 , 5L096JA09

引用特許：

審査官引用 (16件)

3次元データ入力装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-151046 出願人：ミノルタ株式会社
三次元形状抽出方法及び装置並びに記憶媒体
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-263769 出願人：キヤノン株式会社
ステレオ写真法による形状計測方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-040221 出願人：株式会社ひさや

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