特許
J-GLOBAL ID：200903094153716463
負荷試験システムおよび負荷試験方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
高橋 英生
, 浅見 保男
, 武山 吉孝
, 鈴木 隆盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-212289
公開番号（公開出願番号）：特開2004-053452
出願日： 2002年07月22日
公開日（公表日）： 2004年02月19日
要約：
【課 題】リアルの供試体と仮想モデルとを用いた試験の際にアクチュエータなどの応答遅れの影響を極力除去することができる負荷試験システムおよび負荷試験方法を提供することを目的とする。【解決手段】試験対象物は、一部がリアルの供試体(6)で、他の部分がコンピュータ上の仮想モデルで構築されるとともに、供試体と仮想モデルとは相互作用を有しており、供試体の状態データが仮想モデルに入力され、この状態データに基づいて仮想モデルから供試体に加えるべき負荷の参照波形が出力され、この供試体に負荷試験機(61)の負荷装置(62,63)で負荷を加えて試験を行う。制御波形を出力して、供試体に入力された入力負荷波形と仮想モデルからの参照波形とを評価部で比較し、参照波形と入力負荷波形との誤差が小さくなる様に、制御波形を更新し、更新制御波形を負荷装置に出力することを繰り返す。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
試験対象物は、その一部がリアルの供試体で、他の部分がコンピュータ上の仮想モデルで構築されるとともに、供試体と仮想モデルとは相互作用を有しており、供試体の状態データが仮想モデルに入力され、この状態データに基づいて仮想モデルから供試体に加えるべき負荷の参照波形が出力され、
この試験対象物の供試体に負荷試験機の負荷装置で負荷を加えて試験を実行する負荷試験システムであって、
前記負荷装置に入力する制御波形を生成する制御波形生成部と、
負荷装置により供試体に入力された入力負荷波形を検出する入力負荷波形検出手段と、
この入力負荷波形と仮想モデルからの参照波形とを比較する評価部とを備え、前記制御波形生成部から第1次制御波形を負荷装置に出力する第1次制御波形出力ステップと、
この第1次制御波形により負荷装置から供試体に入力された第1次入力負荷波形と仮想モデルから出力される第1次参照波形とを評価部で比較して、第1次参照波形と第1次入力負荷波形との誤差が小さくなる様に、第1次制御波形を更新して、更新制御波形を生成する第1次制御波形更新ステップと、
更新制御波形を負荷装置に出力する更新制御波形出力ステップと、
更新制御波形により負荷装置から供試体に入力された入力負荷波形と仮想モデルから出力される参照波形とを評価部で比較して、参照波形と入力負荷波形との誤差が小さくなる様に、更新制御波形をさらに更新し、新しい更新制御波形を生成する制御波形更新ステップと、
参照波形と入力負荷波形との誤差が小さくなるまで、前記更新制御波形出力ステップと制御波形更新ステップとを繰り返す繰返ステップと、
を実行する負荷試験システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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