特許
J-GLOBAL ID：200903094436367554

スキャンテスト回路およびスキャンテスト方法

発明者：
松本 義史

松本 義史 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 前田 弘 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-185050
公開番号（公開出願番号）：特開2003-004807
出願日： 2001年06月19日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：
【要約】【課題】 高速LSIのタイミングテストをスキャンテストによって行う。【解決手段】 LSI1の実際の動作速度よりも低い周波数のクロックに同期してテストデータD1-D6をスキャンインする。(スキャンチェーン120の出力)-(セレクタ201)-(スキャンチェーン120の入力)間でループを形成し、スキャンインしたテストデータD1-D6をLSI1の実際の動作速度に等しい周波数のクロックに同期して所定期間このループ上で巡回させる。LSI1の実際の動作速度に等しい周波数のクロックに同期してテスト結果R1-R6をキャプチャする。LSI1の実際の動作速度よりも低い周波数のクロックに同期してテスト結果R1-R6をスキャンアウトする。
請求項（抜粋）：
第1のスキャンチェーンと、テストデータまたは前記第1のスキャンチェーンの出力データを選択的に前記第1のスキャンチェーンの入力に与えるセレクタとを備え、前記第1のスキャンチェーンは、シフトモードおよびキャプチャモードを有し、シフトモードのときは、前記セレクタによって入力に与えられたデータを第1のクロックまたは第1のクロックの周波数よりも高い周波数を有する第2のクロックに同期してシフトし、キャプチャモードのときは、テスト対象からの前記テストデータに対する出力を前記第2のクロックに同期して取り込むことを特徴とするスキャンテスト回路。
IPC (5件)：
G01R 31/28 ,  G06F 11/22 330 ,  G06F 11/22 360 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04
FI (4件)：
G06F 11/22 330 B ,  G06F 11/22 360 P ,  G01R 31/28 G ,  H01L 27/04 T
Fターム (19件)：
2G132AA01 ,  2G132AC14 ,  2G132AD07 ,  2G132AE11 ,  2G132AE22 ,  2G132AG08 ,  2G132AH04 ,  2G132AK15 ,  2G132AK24 ,  2G132AL11 ,  2G132AL32 ,  5B048AA20 ,  5B048CC18 ,  5B048DD05 ,  5B048DD07 ,  5B048EE02 ,  5F038DT06 ,  5F038DT15 ,  5F038EZ20
引用特許：
出願人引用 (7件)
  • 特開平3-012570
  • 半導体集積装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-252487   出願人：沖電気工業株式会社
  • 特開昭63-024330
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審査官引用 (6件)
  • 特開平3-012570
  • 半導体集積装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-252487   出願人：沖電気工業株式会社
  • 特開昭63-024330
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