特許
J-GLOBAL ID：200903094440511848

レーザ光を用いた微量成分測定方法及びその装置

発明者：
出口 祥啓

出口 祥啓 について

, 
山浦 剛俊

山浦 剛俊 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について


代理人 (1件)： 高橋 昌久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-314336
公開番号（公開出願番号）：特開2003-121360
出願日： 2001年10月11日
公開日（公表日）： 2003年04月23日
要約：
【要約】【課題】 レーザ光のプラズマ化により被測定物質中の微量成分を検出するにあたり、簡単な手順かつ短時間で以って、プラズマ信号中におけるノイズの発生を抑制して微量成分濃度の検出を高精度で行い得る微量成分測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 レーザ光を被測定物質に集光し該物質中の微量成分のプラズマ光により前記微量成分を検出するにあたり、被測定物質中の微量成分を吸着材に吸着させ、該吸着材の表面にレーザ光を集光して前記微量成分のプラズマ光を信号光として取り出し微量成分の濃度を検出することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
レーザ光を被測定物質に集光し、該被測定物質中の重金属等の微量成分をプラズマ化させてそのプラズマ光を分光することにより前記被測定物質中の微量成分を検出するレーザ光を用いた微量成分測定方法において、前記被測定物質中の微量成分を吸着材に吸着させ、次いで該吸着材の表面にレーザ光を集光して前記微量成分をプラズマ化させ、そのプラズマ光を信号光として取り出して前記微量成分の濃度を検出することを特徴とするレーザ光を用いた微量成分測定方法。
IPC (2件)：
G01N 21/63 ,  G01N 1/22
FI (2件)：
G01N 21/63 A ,  G01N 1/22 L
Fターム (32件)：
2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043BA03 ,  2G043BA04 ,  2G043BA06 ,  2G043BA07 ,  2G043CA02 ,  2G043CA03 ,  2G043CA05 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA10 ,  2G043GA02 ,  2G043GB19 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01 ,  2G052AA02 ,  2G052AB01 ,  2G052AB27 ,  2G052AC25 ,  2G052AD04 ,  2G052AD52 ,  2G052BA21 ,  2G052ED03 ,  2G052GA15 ,  2G052JA09 ,  2G052JA13
引用特許：
審査官引用 (4件)
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