特許
J-GLOBAL ID：200903095404505919

形状測定システム、形状測定方法及び形状測定プログラム

発明者：
石田 勲

石田 勲 について


出願人/特許権者：
日立金属株式会社

日立金属株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-027997
公開番号（公開出願番号）：特開2006-214870
出願日： 2005年02月03日
公開日（公表日）： 2006年08月17日
要約：
【課題】本発明は、高い寸法精度が要求される特定部位のコーナーRの半径、距離又は角度等の寸法を、自動で算出することができる形状測定システム、形状測定方法及び形状測定プログラムを提供することを目的としている。【解決手段】本発明に係る形状測定システムは、読み込んだ輪郭形状データから輪郭形状画像を生成する輪郭形状画像生成手段と、前記輪郭形状画像に対して、幾何学的パターンマッチング(以下PMと略する場合がある。)を行って求めた被測定対象部位の周辺所定位置に第1評価領域、第2評価領域を設定する評価領域設定手段と、第1評価領域,2評価領域内の輪郭形状データに基づき直線近似した2直線の交点を基準として測定領域を設定する測定領域設定手段と、設定した形状評価の種類に応じて測定領域内の輪郭形状データに対して幾何要素の物理量を求め、所定の寸法測定処理を実行する形状評価手段とを備えたことを特徴としている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
コンピュータシステムを用いて被測定対象の輪郭形状データを基に被測定対象部位の寸法を測定する形状測定システムにおいて、 輪郭形状データから輪郭形状画像を生成する輪郭形状画像生成手段と、 輪郭形状画像にパターンマッチングを行って求めた被測定対象部位の周辺所定位置に第1評価領域,第2評価領域を設定する評価領域設定手段と、 第1評価領域,第2評価領域内の輪郭形状データを直線近似した2直線の交点を基準として測定領域を設定する測定領域設定手段と、 設定した形状評価の種類に応じて測定領域内の輪郭形状データに対して幾何要素の物理量を求め所定の寸法測定処理を実行する形状評価手段とを備えたことを特徴とする形状測定システム。
IPC (3件)：
G01B 11/02 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60
FI (3件)：
G01B11/02 H ,  G06T7/00 200Z ,  G06T7/60 150J
Fターム (25件)：
2F065AA21 ,  2F065AA31 ,  2F065AA51 ,  2F065AA58 ,  2F065BB08 ,  2F065CC07 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065FF04 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065RR09 ,  2F065UU05 ,  5L096BA03 ,  5L096BA08 ,  5L096FA02 ,  5L096FA06 ,  5L096FA64 ,  5L096FA67 ,  5L096FA68 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (5件)
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