特許
J-GLOBAL ID:200903095658654906

MOSFET構成素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-182379
公開番号(公開出願番号):特開2000-031471
出願日: 1999年06月28日
公開日(公表日): 2000年01月28日
要約:
【要約】【課題】 付加的なコストなしに、簡単な手段で、不可避的に高い電流により、構成素子が破損されてしまう寄生トランジスタの導通接続からMOSFET構成素子を確実に保護すること。【解決手段】 高い電流のスイッチング用に使用されるMOSFET構成素子が提案されている。構成素子は、寄生バイポーラトランジスタのベース-エミッタ区間に対して並列接続された電流路を有しており、この電流路は、少数荷電担体を吸収し、寄生トランジスタの制御を阻止する。
請求項(抜粋):
弱n型ドーピング領域(1)内のMOSFET構成素子であって、前記弱n型ドーピング領域(1)内に、p型領域(3)が形成されており、該p型領域(3)内には、強n型ドーピング-ソース領域(4)が形成されており、寄生トランジスタ(12)が、エミッタとしてのソース領域(4)、ベースとしてのp型領域(3)及びコレクタとしてのn型領域(1)で形成されており、ソース領域の下側の前記p型領域(3)のp型ドーピング領域(5)によって、下側通過抵抗(6)が形成されており、前記寄生トランジスタ(12)のベース-エミッタ区間には、p型導電路が並列接続されているMOSFET構成素子において、p型導電路は、強p型ドーピング補助領域(20)を有しており、該強p型ドーピング補助領域(20)は、下側通過抵抗(6)に対して並列接続されていることを特徴とする構成素子。
引用特許:
審査官引用 (6件)
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